[发明专利]面板阵列短路检测方法、装置、电子设备及存储介质

说明书

本申请提供一种面板阵列短路检测方法、装置、电子设备及存储介质，属于数据处理技术的领域，方法包括：以无缺陷特征单元的特征区域作为参考特征区域，采用目标检测模型，得到待测面板图像的缺陷特征区域、良好特征区域以及其特征点，进而根据缺陷特征区域的位置，确定出与缺陷特征区域有关联的特征点作为参考点，基于特征单元规定的规格，构建参考点对应的特征单元，基于此，检测出缺陷特征区域与其所关联的参考点对应的特征单元的交集个数，并基于交集个数，判断缺陷特征区域的缺陷类型是否为短路，从而能够改善现有技术中无法准确判断识别到的阵列面板蚀刻过程中形成的缺陷的类型是否为短路的问题。

技术领域

本申请涉及数据处理技术的领域，尤其是涉及一种面板阵列短路检测方法、装置、电子设备及存储介质。

背景技术

工业制造过程中，因工艺波动、机台差异等因素，会产生各种各样形态的缺陷，若采用人工识别的方法，对产品缺陷进行识别分类，则需要大量的人力，使得人力成本过高。基于人力成本过高的考虑，现今，越来越多的电子制造商开始采用人工智能自动缺陷分类系统（ADC）来代替人力进行缺陷分类。

在面板生产制造行业内，面板的制造生产过程通常包括薄膜晶体管（thin FilmTransistor，TFT）面板生产、彩色滤光片（Color Filter，CF）生产、板对合（Cell）和模组等流程。目前，人工智能也在面板生产中大量使用，在面板质检过程中，已经开始采用人工智能检测的方法。采用目标检测模型是面板质检过程中常用的手段，其能够识别阵列面板蚀刻过程中形成的残留缺陷的类型，但是无法准确判断该缺陷的类型是否为短路。

发明内容

为使本公开的上述目的、特征和优点能更明显易懂，下文特举较佳实施方式，并配合所附附图，作详细说明如下。

本申请的目的包括，提供一种面板阵列短路检测方法、装置、电子设备及存储介质，能够改善现有技术中无法准确判断识别到的阵列面板蚀刻过程中形成的缺陷的类型是否为短路的问题。

第一方面，本申请提供一种面板阵列短路检测方法，采用如下的技术方案：

一种面板阵列短路检测方法，所述方法包括：

以无缺陷特征单元的特征区域作为参考特征区域，采用目标检测模型，得到待测面板图像的缺陷特征区域、良好特征区域以及良好特征区域的特征点；

根据所述缺陷特征区域的位置，确定出与所述缺陷特征区域有关联的所述特征点作为参考点，基于特征单元规定的规格，构建所述参考点对应的特征单元；

检测出所述缺陷特征区域与其所关联的所述参考点对应的特征单元的交集个数，基于所述交集个数，判断所述缺陷特征区域的缺陷类型是否为短路。

通过采用上述技术方案，采用目标检测模型，得到待测面板图像的缺陷特征区域、良好特征区域以及良好特征区域的特征点，并基于缺陷特征区域的位置，得到与其有关联的参考点，进而根据参考点所对应的特征单元与缺陷特征区域的交集个数，来确定缺陷特征区域的缺陷类型是否为短路，从而在一定程度上能够改善现有技术中无法准确判断识别到的阵列面板蚀刻过程中形成的缺陷的类型是否为短路的问题。

在一种可行的实施方式中，所述良好特征区域包括第一特征区域和第二特征区域；

所述以无缺陷特征单元的特征区域作为参考特征区域，采用目标检测模型，得到待测面板图像的缺陷特征区域、良好特征区域以及良好特征区域的特征点的步骤，包括：

以面板阵列图像中无缺陷的特征单元的特征区域为参考特征区域，将所述参考特征区域的图像作为目标检测模型的参考检测特征，对待测面板图像进行检测，识别出所述待测面板图像的缺陷特征区域和第一特征区域；

根据识别出的所述第一特征区域以及待测面板的规格，确定特征单元的排布周期；