[发明专利]合成孔径雷达镶嵌影像匀色处理方法有效

专利信息
申请号: 202111024805.6 申请日: 2021-09-02
公开(公告)号: CN113724165B 公开(公告)日: 2022-05-24
发明(设计)人: 王峰;胡玉新;刘方坚;刘瑞;焦念刚 申请(专利权)人: 中国科学院空天信息创新研究院
主分类号: G06T5/00 分类号: G06T5/00;G06T7/90
代理公司: 中科专利商标代理有限责任公司 11021 代理人: 樊晓
地址: 100190 *** 国省代码: 北京;11
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摘要:
搜索关键词: 合成孔径雷达 镶嵌 影像 处理 方法
【权利要求书】:

1.一种合成孔径雷达镶嵌影像匀色处理方法,包括:

对合成孔径雷达接收的原始信号进行处理生成第一影像,对所述第一影像进行处理得到像方同名点;

基于所述像方同名点对第一几何定位参数进行修正得到第二几何定位参数;

基于所述像方同名点和所述第二几何定位参数提取相邻影像对应区域;

在所述相邻影像对应区域内筛选部分区域作为匀色模型系数基准;

基于作为所述匀色模型系数基准的区域构建后向散射系数修正模型;

基于所述后向散射系数修正模型得到匀色处理修正系数;

利用所述匀色处理修正系数对所述第一影像重新进行辐射校正得到第二影像;

对所述第二影像进行可视化处理;

其中,第一几何定位参数包括有理多项式系数。

2.根据权利要求1所述的匀色处理方法,其中,对所述第一影像进行处理得到像方同名点,包括:

依据第一限定值对所述第一影像进行辐射校正得到校正影像;

对所述校正影像进行匹配得到所述像方同名点;其中,所述第一限定值表征第一影像的最大量化系数。

3.根据权利要求2所述的匀色处理方法,其中,所述第一影像表征以单视复影像产品形成的基本处理单元。

4.根据权利要求1所述的匀色处理方法,其中,基于所述像方同名点对第一几何定位参数进行修正得到第二几何定位参数,包括:

基于所述像方同名点对第一几何定位参数进行平差得到第二几何定位参数;其中,所述第二几何定位参数包括有理多项式系数。

5.根据权利要求1所述的匀色处理方法,其中,基于所述像方同名点和所述第二几何定位参数提取相邻影像对应区域,包括:

根据物方覆盖范围一致原则,计算所述像方同名点的对应区域的尺寸;

依据所述像方同名点的对应区域的尺寸将所述像方同名点的对应区域划分为网格状的像方网格区域;

在所述像方网格区域中提取相邻且同名点对数相同的影像作为相邻影像对应区域。

6.根据权利要求5所述的匀色处理方法,其中,在所述相邻影像对应区域内筛选部分区域作为匀色模型系数基准,包括:

计算所述相邻影像对应区域的方差和均值;

将所述相邻影像对应区域的方差、均值和预设的阈值进行比较去除所述相邻影像对应区域内的镜面反射区域和二面角反射区域。

7.根据权利要求6所述的匀色处理方法,其中,所述阈值符合近似粗糙面均匀散射区域的特征,以保留的所述相邻影像对应区域内的近似粗糙面均匀散射区域作为所述匀色模型系数基准。

8.根据权利要求7所述的匀色处理方法,其中,基于作为所述匀色模型系数基准的区域构建后向散射系数修正模型,包括:

利用作为所述匀色模型系数基准的区域的均值计算所述相邻影像对应区域中每相邻的两个影像的复影像功率值;

根据所述复影像功率值构建所述相邻影像的误差方程组,以所述误差方程组作为所述后向散射系数修正模型。

9.根据权利要求1所述的匀色处理方法,其中,基于所述后向散射系数修正模型得到匀色处理修正系数,包括:

根据复影像功率值构建相邻影像的误差方程组,如式6表示:

式6中,P为SAR复影像的功率;Qv为第二最大值量化系数;h为第二乘性修正量的最优解;和为相邻影像重叠区域的后向散射系数;KdB为该影像的定标常数,可通过元数据文件CalibrationConst字段获取;

式6中,当影像i和j不相邻时,当影像i和j相邻时,依据每对具有重叠关系的影像列出多个误差方程,利用最小二乘整体求解出所有影像的匀色处理修正系数。

10.根据权利要求9所述的匀色处理方法,其中,所述匀色处理修正系数,包括:

每个所述影像的第二最大值量化系数;以及

每个所述影像的第二乘性修正量的最优解。

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