[发明专利]验证方法及其装置、计算机存储介质以及处理器

说明书

本发明公开了一种验证方法及其装置、计算机存储介质以及处理器。其中，该方法包括：利用预定函数对目标参数进行分类处理，得到分类后的目标参数；获取分类后的目标参数中的负类参数，并基于负类参数生成测试激励参数，其中，负类参数为使测试用例失败的参数；利用测试激励参数对待验证模块进行验证。本发明解决了针对相关技术中现有芯片验证领域存在浪费人力资源、验证效率低、进而推迟产品上市时间的技术问题。

技术领域

本发明涉及电子设计封装测试领域，具体而言，涉及一种验证方法及其装置、计算机存储介质以及处理器。

背景技术

为了规范验证平台的搭建，在电子设计自动化(Electronic Design Automation，简称EDA)厂商和用户之间建立一个统一的原则，Accellera提出了通用验证方法学(Universal Verification Methodology，简称UVM)标准，并得到了Mentor、Cadence和Synopsys三大厂商的支持。UVM是一个以System Verilog类库为主体的验证平台开发框架，验证工程师可以利用其可重构组件构建具有标准层次结构和接口的功能验证环境。

图1是现有技术中传统的UVM验证平台结构的示意图，如图1所示，在现有验证方法以及验证架构中，如果对待验证模块(Design Under Test，简称DUT)有迭代更新或者改动，那么验证人员所开发的测试用例(case)需要根据随机函数重新生成含有新参数的激励灌输到对待验证模块DUT中。所输入参数产生的激励仍然随机，无法在短时间内精确验证到设计中的薄弱环节，而且所做工作与之前高度重复。该验证方法以及架构不仅会浪费不必要的人力资源，而且验证效率低，推迟产品上市时间，更有非常大的几率漏掉以前已经发现的漏洞。

针对上述的问题，目前尚未提出有效的解决方案。

发明内容

本发明实施例提供了一种验证方法及其装置、计算机存储介质以及处理器，以至少解决针对相关技术中现有芯片验证领域存在浪费人力资源、验证效率低、进而推迟产品上市时间的技术问题。

根据本发明实施例的一个方面，提供了一种验证方法，其特征在于，包括：利用预定函数对目标参数进行分类处理，得到分类后的目标参数；获取所述分类后的目标参数中的负类参数，并基于所述负类参数生成测试激励参数，其中，所述负类参数为使测试用例失败的参数；利用所述测试激励参数对待验证模块进行验证。

可选地，在利用预定函数对目标参数进行分类处理，得到分类后的目标参数之前，所述方法还包括：调用随机函数基于所述测试用例中预先定义的参数生成所述目标参数。

可选地，调用随机函数基于测试用例中预先定义的所有参数生成所述目标参数，包括：获取所述测试用例中预先定义的至少部分参数；将所述至少部分参数约束到预定范围，得到初始参数；调用所述随机函数基于所述初始参数生成所述目标参数。

可选地，在利用预定函数对目标参数进行分类处理，得到分类后的目标参数之前，所述方法还包括：调用验证平台中验证环境所需的所述预定函数。

可选地，在调用验证平台中验证环境所需的预定函数之前，还包括：获取所述预定函数；其中，获取所述预定函数，包括：从第一数据库和第二数据库中获取样本数据，其中，所述第一数据库中存储有使测试用例验证失败的负类激励值，所述第二数据库中存储有使测试用例验证成功的正类激励值，所述样本数据中的一部分作为训练数据；利用所述训练数据对初始网络模型进行训练，得到预定分类模型；提取所述预定分类模型中算法的固定参数；对所述固定参数以及所述算法进行封装，得到所述预定函数。

可选地，提取所述预定分类模型中算法的固定参数，包括：利用所述样本数据中的另外一部分作为测试数据，对所述预定分类模型进行验证，得到验证结果；在所述验证结果表示所述预定分类模型的分类准确率达到预定阈值时，提取所述预定分类模型中算法的固定参数。