[发明专利]一种直接采样电离分析系统及方法、应用有效

专利信息
申请号: 202111028331.2 申请日: 2021-09-02
公开(公告)号: CN113720894B 公开(公告)日: 2022-07-08
发明(设计)人: 欧阳证;张文鹏;焦斌 申请(专利权)人: 清华大学;北京清谱科技有限公司
主分类号: G01N27/62 分类号: G01N27/62;G01N1/28
代理公司: 北京清亦华知识产权代理事务所(普通合伙) 11201 代理人: 罗岚
地址: 10008*** 国省代码: 北京;11
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摘要:
搜索关键词: 一种 直接 采样 电离 分析 系统 方法 应用
【权利要求书】:

1.一种直接采样电离分析系统,其特征在于,包括:

采样模块,用于接触待测样品,采集待测成分;

试剂盒模块,用于固定所述采样模块,洗脱所述待测成分,获得洗脱溶液;

反应模块,用于对所述洗脱溶液进行高通量的化学反应;

进样模块,用于将所述试剂盒模块固定在质谱仪的进样端,使得所述进样模块和所述质谱仪配合进样;

所述采样模块为一端固定有多孔膜的金属探针,所述多孔膜用于接触采集所述待测样品,所述多孔膜还包括修饰在其上用于改善接触采集条件的化学试剂,所述试剂盒模块上固定有纳喷玻璃管,所述纳喷玻璃管中盛装有用于洗脱所述待测成分的洗脱溶剂,所述金属探针完成采集后插入所述纳喷玻璃管;对所述金属探针施加电压后,在所述纳喷玻璃管的尖端形成电喷雾。

2.如权利要求1所述的直接采样电离分析系统,其特征在于,所述多孔膜的孔径为0.1-10μm。

3.如权利要求1所述的直接采样电离分析系统,其特征在于,所述金属探针用于固定所述多孔膜,所述金属探针的外径为0.2-1mm。

4.如权利要求1所述的直接采样电离分析系统,其特征在于,所述进样模块包括单次质谱分析进样装置和序列质谱分析进样装置。

5.基于如权利要求1-4任一所述的直接采样电离分析系统的直接采样电离分析方法,其特征在于,包括以下步骤:

(1)将金属探针的多孔膜与待测样品接触,吸取待测成分;

(2)将所述金属探针置于清洗溶液中,除去粘附的基质成分;

(3)将所述金属探针插入装有洗脱溶剂的纳喷玻璃管中,静置或晃动洗脱,获得洗脱溶液;

(4)在反应模块中,对所述洗脱溶液进行高通量的化学反应;

(5)对反应后的所述洗脱溶液进行质谱分析,得到所述待测样品中的化学分子信息。

6.如权利要求5所述的直接采样电离分析方法,其特征在于,所述待测样品为固体时,所述多孔膜与所述待测样品的接触方式为:将所述多孔膜插入所述待测样品内部或者使所述多孔膜在所述待测样品表面滚动;所述待测样品为液体时,所述多孔膜与所述待测样品的接触方式为将所述多孔膜插入所述待测样品内部。

7.如权利要求5所述的直接采样电离分析方法,其特征在于,使用所述金属探针进行采样的方式包括直接用所述金属探针采样以及将所述金属探针和试剂盒搭配采样。

8.如权利要求5所述的直接采样电离分析方法的应用,其特征在于,包括定性分析和定量分析,在所述定性分析方面,所述直接采样电离分析方法用于确定元素的组成、磷脂的sn异构体和碳碳双键位置异构体;在所述定量分析方面,所述直接采样电离分析方法用于通过在所述多孔膜上或所述洗脱溶液中添加内标物实现对所述待测成分的定量检测。

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