[发明专利]一种表面缺陷检测方法、装置及设备

说明书

本发明公开了一种表面缺陷检测方法、装置及设备，该方法包括：获取待检测表面的表面特征和待检测表面的深度数据；根据待检测表面的深度数据，生成待检测表面的原始深度图像；基于待检测表面的表面特征，对原始深度图像进行滤波，以确定待检测表面的参考深度图像；根据参考深度图像与原始深度图像，确定待检测表面的差分深度图像；根据差分深度图像，确定待检测表面的缺陷区域特征。本发明实施例简化了数据获取方式；无需与额外的标准产品的表面深度图像，仅与待检测表面自身的深度图像进行比对，即可获得相应的缺陷区域特征，其既可适用于刚性产品的表面缺陷检测，也适用于柔性产品的表面缺陷检测，且具有较高的缺陷检测准确性。

技术领域

本发明实施例涉及视觉检测技术领域，尤其涉及一种表面缺陷检测方法、装置及设备。

背景技术

随着现代技术的进步，产品趋向于精密化、微型化程度发展，因此对于产品的缺陷、瑕疵的检查更加严格，视觉检测技术凭借其高效率、稳定、比人眼更加容易观察微小产品等优点，被应用于众多加工生产过程中，替代人工检查。

目前，缺陷检测技术，尤其是对产品表面缺陷检测技术从二维图像检测升级为三维检测技术，从而实现对产品表面的凹凸缺陷进行检测。但是，由于现有技术中，对表面缺陷进行检测时，三维检测技术通常采用降维、标准产品比对的方式进行检测，使得三维检测技术对物体刚性具有较高的要求，无法实现对刚性较差的产品(例如柔性产品)表面的凹凸缺陷进行检测，且因标准产品与待检测产品之间会存在一定的差异，从而影响表面缺陷检测的准确性。

发明内容

本发明提供一种表面缺陷检测方法、装置及设备，以在能够对随机曲面产品的表面进行检测的前提下，提高表面缺陷检测的准确性。

第一方面，本发明实施例提供了一种表面缺陷检测方法，该方法包括：

获取待检测表面的表面特征和所述待检测表面的深度数据；

根据所述待检测表面的深度数据，生成所述待检测表面的原始深度图像；

基于所述待检测表面的表面特征，对所述原始深度图像进行滤波，以确定所述待检测表面的参考深度图像；

根据所述参考深度图像与所述原始深度图像，确定所述待检测表面的差分深度图像；

根据所述差分深度图像，确定所述待检测表面的缺陷区域特征。

可选的，所述待检测表面的表面特征包括表面形变参数；

基于所述待检测表面的表面特征，对所述原始深度图像进行滤波，以确定所述待检测表面的参考深度图像，包括：

当所述表面形变参数在第一预设形变参数范围内时，基于移动平均滤波的方式对所述原始深度图像进行滤波，以确定所述待检测表面的参考深度图像；

当所述表面形变参数在第二预设形变参数范围内时，基于均值滤波的方式对所述原始深度图像进行滤波，以确定所述待检测表面的参考深度图像；

当所述表面形变参数在第三预设形变参数范围内时，基于高斯滤波的方式对所述原始深度图像进行滤波，以确定所述待检测表面的参考深度图像；

其中，所述第一预设形变参数范围内的形变参数小于所述第二预设形变参数范围内的形变参数，以及所述第二预设形变参数范围内的形变参数小于所述第三预设形变参数范围内的形变参数。

可选的，根据所述参考深度图像与所述原始深度图像，确定所述待检测表面的差分深度图像，包括：

获取所述参考图像中各个位置处的参考深度值，以及所述原始深度图像中各个位置处的原始深度值；

一一对应地计算各个位置处的参考深度值与所述原始深度值之间的差值作为差分深度值；

根据各个位置处的所述差分深度值，确定所述待检测表面的差分深度图像。