[发明专利]片上系统芯片、测试方法及测试系统

权利要求书

1.一种片上系统芯片，其特征在于，包括：导出模块、多个电路模块以及多个数据选择器；每个电路模块中包含有至少一个扫描链，每个扫描链由多个扫描寄存器串联形成，所述每个扫描链上前一级扫描寄存器的输出引脚连接后一级扫描寄存器的串行输入引脚；所述每个扫描链上各扫描寄存器的时钟引脚连接一个所述数据选择器的输出引脚；所述每个扫描链上各扫描寄存器的扫描使能端并联在一起，以根据输入的扫描使能信号进入测试模式；

所述导出模块具有多个现场模式输出引脚、多个现场输入引脚、现场输出引脚、现场串行输入引脚、现场时钟输入引脚、现场时钟输出引脚；

每个现场模式输出引脚连接一个所述数据选择器的控制引脚，所述数据选择器的一个输入引脚连接内部时钟，所述数据选择器的另一个输入引脚连接所述现场时钟输出引脚，所述每个扫描链上最后一个扫描寄存器的输出引脚连接一个现场输入引脚，以基于所述现场串行输入引脚的现场模式控制信号、所述现场时钟输入引脚所输入的外部时钟信号的作用下，将目标电路模块中每个扫描链上最后一个扫描寄存器的输出引脚连接至所述导出模块，其中，所述目标电路模块为所述多个现场模式输出引脚中基于所述现场模式控制信号输出时钟选择信号的现场模式输出引脚所连接的数据选择器对应的电路模块，所述时钟选择信号用于使得所述目标电路模块中每个扫描链上各扫描寄存器的时钟引脚输入所述外部时钟信号，其他电路模块中每个扫描链上各扫描寄存器的时钟引脚输入内部时钟信号；

所述现场输出引脚用于输出采集到的所述目标电路模块中每个扫描链上各扫描寄存器内的状态数据，以根据所述目标电路模块中每个扫描链上各扫描寄存器内的状态数据和预先配置的参考数据分析存在故障的扫描寄存器。

2.根据权利要求1所述的片上系统芯片，其特征在于，所述每个扫描链上各扫描寄存器的扫描使能端用于连接外部设备，以接收所述外部设备输入的所述扫描使能信号。

3.根据权利要求1所述的片上系统芯片，其特征在于，所述导出模块具有现场模式输入引脚，用于连接外部设备，以接收所述外部设备输入的扫描使能信号，所述每个扫描链上各扫描寄存器的扫描使能端连接所述现场模式输入引脚，以接收所述扫描使能信号。

4.一种片上系统芯片的测试方法，其特征在于，所述片上系统芯片为上述权利要求1-3中任一所述的片上系统芯片，所述测试方法包括：

所述片上系统芯片内每个电路模块中每个扫描链在通过所述每个扫描链上各扫描寄存器的扫描使能端接收的外部输入的扫描使能信号的作用下，进入测试模式；

所述片上系统芯片中导出模块的现场串行输入引脚在外部输入的现场模式控制信号的作用下，通过所述多个现场模式输出引脚中的目标现场模式输出引脚输出时钟选择信号，控制所述目标现场模式输出引脚连接的数据选择器所对应的电路模块被选中为目标电路模块；

外部输入的外部时钟信号，依次通过所述导出模块的现场时钟输入引脚、现场时钟输出引脚以及所述目标电路模块中每个扫描链所连接的数据选择器的另一输入引脚作用至所述目标电路模块的每个扫描链；

所述目标电路模块中每个扫描链上各扫描寄存器中的状态数据在所述外部时钟信号的作用下，通过所述导出模块的现场输出引脚输出，以根据所述目标电路模块中每个扫描链上各扫描寄存器内的状态数据和预先配置的参考数据分析存在故障的扫描寄存器。

5.根据权利要求4所述的方法，其特征在于，所述方法还包括：

采用与所述导出模块的现场输出引脚连接的外部采样设备，对所述目标电路模块中每个扫描链在各个时钟周期下的状态数据进行记录。

6.根据权利要求4所述的方法，其特征在于，所述方法还包括：

通过所述导出模块的现场串行输入引脚重新输入现场模式控制信号；

基于重新输入的现场模式控制信号以及所述外部时钟信号，控制所述重新输入的现场模式控制信号对应的另一电路模块中每个扫描链上各扫描寄存器中的状态数据通过所述导出模块的现场输出引脚进行输出，直至所述多个电路模块依次均被选中，并获取到对应的扫描寄存器状态数据。