[发明专利]一种识别方法、装置及电子设备在审
申请号: | 202111037341.2 | 申请日: | 2021-09-06 |
公开(公告)号: | CN113743305A | 公开(公告)日: | 2021-12-03 |
发明(设计)人: | 韩兴;魏闪闪;马骁 | 申请(专利权)人: | 联想(北京)有限公司 |
主分类号: | G06K9/00 | 分类号: | G06K9/00;G06K9/62;G06N20/00 |
代理公司: | 北京集佳知识产权代理有限公司 11227 | 代理人: | 张影 |
地址: | 100085 北京市海淀*** | 国省代码: | 北京;11 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 识别 方法 装置 电子设备 | ||
本申请提供了一种识别方法、装置及电子设备,该方法在确定待识别图像满足面部完整度条件的情况下,基于待识别图像中每个面部部位关键点的位置,确定待识别图像中至少一个面部部位组对应的关联区域,可以使用于确定待识别图像的遮挡状态的数据更加丰富且有效,进而基于更加丰富且有效的数据即关联区域中每个像素点的第一参数,确定待识别图像的遮挡状态,提高遮挡状态的准确性。并且,根据待识别图像中每个面部部位关键点的位置,确定待识别图像满足面部完整度条件,可以保证待识别图像至少包含一张完整的面部所包含的各个面部部位,在此基础上,保证面部部位组对应的关联区域的完整性和准确性,进一步提高待识别图像的遮挡状态的准确性。
技术领域
本申请涉及图像处理技术领域,特别涉及一种识别方法、装置及电子设备。
背景技术
随着面部识别技术的发展,面部识别系统被广泛应用在众多场景(如,地铁的刷脸进站、商店监控等)中。
其中,面部识别系统在面部注册阶段获得质量较高的面部模板,能够有效提高面部识别准确率。但是,面部模板的质量会受到面部遮挡的影响,因此,如何识别图像中是否存在面部遮挡成为问题。
发明内容
本申请提供如下技术方案:
本申请一方面提供一种识别方法,包括:
获得待识别图像;
将所述待识别图像输入到深度学习模型,确定所述待识别图像中每个面部部位关键点的位置及所述待识别图像中每个像素点的第一参数;
根据所述待识别图像中每个面部部位关键点的位置,确定所述待识别图像是否满足面部完整度条件;
在所述待识别图像满足所述面部完整度条件的情况下,基于所述待识别图像中每个面部部位关键点的位置,确定所述待识别图像中至少一个面部部位组对应的关联区域,所述面部部位组至少包括面部中存在关联的第一面部部位和第二面部部位;
基于所述关联区域中每个所述像素点的第一参数,确定所述待识别图像的遮挡状态。
所述根据所述待识别图像中每个面部部位关键点的位置,确定所述待识别图像是否满足面部完整度条件,包括:
确定所述待识别图像中所述面部部位关键点的位置的个数与设定面部部位关键点位置个数是否匹配。
所述方法还包括:
若所述待识别图像中所述面部部位关键点的位置的个数与设定面部部位关键点位置个数不匹配,则在所述面部部位关键点的位置的个数小于所述设定面部部位关键点位置个数的情况下,确定所述待识别图像为缺失至少部分面部部位的图像;
在所述面部部位关键点的位置的个数大于所述设定面部部位关键点位置个数的情况下,确定所述待识别图像为存在多张面部的图像。
所述方法还包括:
在面部部位关键点的位置的个数与设定面部部位关键点位置个数匹配的情况下,确定所述待识别图像中每两个所述面部部位关键点的位置之间的差异是否在设定范围内。
所述将所述待识别图像输入到深度学习模型,确定所述待识别图像中每个面部部位关键点的位置,包括:
将所述待识别图像输入到深度学习模型,获得所述深度学习模型得到的所述待识别图像中每个像素点的第二参数;
从所述待识别图像中每个像素点的第二参数中,确定分别与各个设定面部部位关键点的第二参数相匹配的目标第二参数;
将所述目标第二参数对应的像素点作为所述待识别图像中的面部部位关键点,将所述目标第二参数对应的像素点在所述待识别图像中的位置作为所述面部部位关键点的位置。
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