[发明专利]一种通过化合物降解测定紫外光反应器内壁光反射率的方法

权利要求书

1.一种通过化合物降解测定紫外光反应器内壁光反射率的方法，主要包括以下步骤：推导得到计算紫外光反应器光反射率的公式：

假设每次紫外反应器内壁的光反射率是个常数，设为η，那么每次反射后的光强可以表示为I_i-1＝η·I′_i (1)

那么反应体系的总吸光I_a可以表示为：

I_a＝(I₀-I′₀)+(I₁-I′₁)+(I₂-I′₂)+...+(I_n-I′_n)

＝I₀-(I′₀-I₁)-(I′₁-I₂)-(I′₂-I₃)-...-(I′_n-1-I_n)-I′_n

＝I₀-(I′₀-η·I′₀)-(I′₁-η·I′₁)-(I′₂-η·I′₂)-...-(I′_n-1-η·I′_n)-I′_n

＝I₀-(1-η)·(I′₀+I′₁+I′₂+...+I′_n-1)-I′_n (2)

在超纯水配置的缓冲溶液体系中，水质的背景吸光可以忽略不计，那么I_a也就是反应体系的有效光强。将反应器的内径设为D，假定体系总吸光的变化忽略不计，根据朗伯-比尔定律，可以得到每次反射后体系的光吸收：

我们对公式3两边取对数，并结合公式1，我们可以发现I′_i(i≥1)为等比数列(公式5)

I′_i＝10^-(ε·C)·D·I_i＝α·I_i＝α·η·I′_i-1＝q·I′_i-1 (5)

公式2可以简化为：

结合公式6和7，通过测定体系的有效光强(也就是I_a)和灯管的初始发射光强(I₀)，就可以测定得到紫外光反应器内壁的光反射率。