[发明专利]一种图像处理方法和电子设备

说明书

本申请涉及一种图像处理方法和电子设备，在获取以第一拍摄参数拍摄的目标对象的第一图像后，一旦确定第一图像的至少部分图像区域中存在不满足预设像素参数条件的至少一个像素，则确定更新拍摄参数，并获取以更新拍摄参数拍摄的目标对象的至少部分区域的更新图像，之后，进一步根据上述的第一图像和更新图像，以及由上述不满足预设像素参数条件的像素构成的待处理像素集，生成目标图像。

技术领域

本申请属于信息采集与处理技术领域，尤其涉及一种图像处理方法和电子设备。

背景技术

3C产品是计算机类、通信类和消费类电子产品三者的统称，在3C产品制造中，通常需要对产品的显示器进行屏幕缺陷检测，如LCD(Liquid Crystal Display，液晶显示器)缺陷检测，以保证产品品质。传统3C产品制造中，在对显示器进行屏幕缺陷检测时，经常发生缺陷细节拍摄不出来或者拍摄不明显等问题，进而导致算法误判或者错判。

发明内容

为此，本申请公开如下技术方案：

一种图像处理方法，包括：

获取以第一拍摄参数拍摄的目标对象的第一图像；

确定所述第一图像的至少部分图像区域中存在不满足预设像素参数条件的至少一个像素，得到待处理像素集；

确定更新拍摄参数，并获取以所述更新拍摄参数拍摄的所述目标对象的至少部分区域的更新图像；所述至少部分区域至少包括所述待处理像素集在所述目标对象上对应的点的集合；

根据所述第一图像和所述更新图像以及所述待处理像素集，生成目标图像。

可选的，所述确定所述第一图像的至少部分图像区域中存在不满足预设像素参数条件的至少一个像素，得到待处理像素集，包括：

确定所述第一图像的至少部分图像区域中像素灰度值和/或亮度值未处于预定取值区间的至少一个像素，得到所述待处理像素集。

可选的，确定更新拍摄参数，并获取以所述更新拍摄参数拍摄的所述目标对象的至少部分区域的更新图像，包括：

若所述待处理像素集中包括像素参数值大于所述预定取值区间的上阈值的第一像素，确定第二拍摄参数，并获取以所述第二拍摄参数拍摄的第一点集的第二图像；所述第一点集至少包括各个第一像素在所述目标对象上对应的点的集合；

若所述待处理像素集中包括像素参数值小于所述预定取值区间的下阈值的第二像素，确定第三拍摄参数，并获取以所述第三拍摄参数拍摄的第二点集的第三图像；所述第二点集至少包括各个第二像素在所述目标对象上对应的点的集合；

其中，所述第二拍摄参数以及所述第三拍摄参数的参数类型与所述第一拍摄参数的参数类型相同，所述第二拍摄参数相比于所述第一拍摄参数能使被拍对象的曝光程度得以降低，所述第三拍摄参数相比于所述第一拍摄参数能使被拍对象的曝光程度得以提升；

所述根据所述第一图像和所述更新图像以及所述待处理像素集，生成目标图像，包括：

根据所述第一图像，和所述第二图像和/或所述第三图像，以及所述待处理像素集，生成目标图像。

可选的，所述确定第二拍摄参数，包括：

从目标拍摄参数集中确定与所述第一像素的像素参数值匹配的拍摄参数，得到所述第二拍摄参数；

所述确定第三拍摄参数，包括：

从所述目标拍摄参数集中确定与所述第二像素的像素参数值匹配的拍摄参数，得到所述第三拍摄参数；

其中，所述目标拍摄参数集还包括所述第一拍摄参数。

可选的，所述根据所述第一图像，和所述第二图像和/或所述第三图像，以及所述待处理像素集，生成目标图像，包括：