[发明专利]免疫荧光层析曲线的分析方法、装置及电子设备在审
申请号: | 202111044962.3 | 申请日: | 2021-09-07 |
公开(公告)号: | CN113761456A | 公开(公告)日: | 2021-12-07 |
发明(设计)人: | 陈喆;陈秋强;王燕青;沈明程;颜楚楚 | 申请(专利权)人: | 杭州凯曼健康科技有限公司 |
主分类号: | G06F17/10 | 分类号: | G06F17/10 |
代理公司: | 北京超凡宏宇专利代理事务所(特殊普通合伙) 11463 | 代理人: | 舒淼 |
地址: | 310000 浙江省杭州市滨江区*** | 国省代码: | 浙江;33 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 免疫 荧光 层析 曲线 分析 方法 装置 电子设备 | ||
1.一种免疫荧光层析曲线的分析方法,其特征在于,所述方法包括:
获取待分析数据;其中,所述待分析数据中包括试纸对应的曲线数据和基础数据;所述曲线数据为通过荧光检测装置对试纸进行检测得到的免疫荧光层析曲线的原始数据信息;所述基础数据为所述荧光检测装置对所述试纸进行自动检测得到的初始检测结果;
根据所述曲线数据和所述基础数据确定所述免疫荧光层析曲线中包含的峰值数据集合;其中,所述峰值数据集合包括所述免疫荧光层析曲线对应的峰值及所述峰值对应的荧光点;
通过所述峰值数据集合和所述基础数据确定总异常信息;其中,所述总异常信息包括曲线数据异常信息、基础数据异常信息和曲线形状异常信息;所述曲线数据异常信息用于表征所述曲线数据是否与预设的正常曲线对应的数据匹配;所述基础数据异常信息用于表征所述初始检测结果与预设检测结果是否匹配;所述曲线形状异常信息用于表征所述曲线数据是否满足预设的正常曲线形状;
根据所述总异常信息确定所述免疫荧光层析曲线的有效性。
2.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述基础数据中包括预设质控线位置、C值、预设测试线位置以及T值;其中,所述C值为所述荧光检测装置在所述试纸的所述预设质控线位置处读取的参考值;所述T值为所述荧光检测装置在所述试纸的所述预设测试线位置处读取的测试值;
根据所述曲线数据和所述基础数据确定所述免疫荧光层析曲线中包含的峰值数据集合的步骤,包括:
根据所述预设质控线位置和所述预设测试线位置将所述曲线数据划分为多个第一区域,每个所述第一区域的中心点对应所述预设质控线位置或者所述预设测试线位置;
判断每个所述第一区域中是否存在第一荧光点的值与该第一区域内其他荧光点的值之间的差值均大于预设高度差,如果是,确定所述第一荧光点对应的数据为峰值数据。
3.根据权利要求2所述的方法,其特征在于,判断每个所述第一区域中是否存在第一荧光点的值与该第一区域其他荧光点的值之间的差值均大于预设高度差,如果是,确定所述第一荧光点对应的数据为峰值数据的步骤,包括:
如果所述第一区域为预设峰值区域,将该预设峰值区域中同时满足如下公式的荧光点对应的数据确定为峰值数据:
其中,h1为第一预设高度差,a为预设峰宽度的1/2,f(xi)为所述曲线数据中第i个荧光点的值,f(xi-a)为在所述第i个荧光点左侧且与所述第i个荧光点的距离为a的荧光点的值,f(xi+a)为与在所述第i个荧光点右侧且与所述第i个荧光点的距离为a的荧光点的值;
如果所述第一区域为预设非峰值区域,将该预设非峰值区域中同时满足如下公式的荧光点对应的数据确定为峰值数据:
其中,h2为第二预设高度差。
4.根据权利要求2所述的方法,其特征在于,当满足以下任一情况时,所述曲线数据异常信息表征为异常状态;
所述曲线数据中小于预设荧光值的所述荧光点的数量与所述荧光点的总数量的比值大于预设第一占比;
所述峰值数据集合中没有峰值存在于以所述预设质控线位置为中心的第二区域内或者以所述预设测试线位置为中心的第三区域内。
5.根据权利要求2所述的方法,其特征在于,当满足以下任一情况时,所述基础数据异常信息表征为异常状态:
所述基础数据中的输入项目号与检测项目号不匹配;其中所述输入项目号为用户使用所述荧光检测装置时输入的项目号;所述检测项目号为所述荧光检测装置对所述试纸进行自动检测得到的项目号;
所述C值小于预设标准C值,且所述峰值数据集合中没有峰值位于以所述预设质控线位置为中心的第四区域内。
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