[发明专利]样本温度监控方法、装置、电子设备及存储介质

说明书

本发明提供一种样本温度监控方法、装置、电子设备及存储介质，该方法包括：确定当前时长和样本存储件内的当前环境温度；根据当前时长和当前环境温度，以及预设的时长、样本温度和环境温度之间的对应关系确定目标样本的当前温度；其中，所述当前时长是样本调温开始时间与当前时间之间的长度。本发明提供的样本温度监控方法、装置、电子设备及存储介质，通过采集样本在程序降温过程中的时长和环境温度，能够获取到不同时长下的样本温度，实现对样本在降温过程中的实时监控，以便尽快的对降温过程进行调控，尽快达到样本所需的温度。

技术领域

本发明涉及样本的程序降温技术领域，尤其涉及一种样本温度监控方法、装置、电子设备及存储介质。

背景技术

目前样本在程序降温中只是根据样本的目标温度简单的改变环境温度，或是以周围的环境温度作为样本温度，但是这些确定目标温度的方式均不能精确的产生误差，为此，给样本温度的确定产生误差。

发明内容

针对现有技术存在的问题，本发明提供一种样本温度监控方法、装置、电子设备及存储介质。

第一方面，本发明提供一种样本温度监控方法，包括：

确定当前时长和样本存储件内的当前环境温度；

根据所述当前时长和所述当前环境温度，以及预设的时长、样本温度和环境温度之间的对应关系确定目标样本的当前温度；

其中，所述当前时长是样本调温开始时间与当前时间之间的长度。

在一个实施例中，所述方法还包括：

确定所述目标样本的目标温度和所述样本存储件内的恒温值；

根据所述目标温度和所述恒温值，以及预设的时长、样本温度和环境温度之间的对应关系确定所述目标样本的所需时长。

在一个实施例中，所述预设的时长、样本温度和环境温度之间的对应关系包括：

其中，T为样本温度，T_c为环境温度，t为时长，δ为影响因子。

在一个实施例中，所述预设的时长、样本温度和环境温度之间的对应关系包括：

其中，T为样本温度，T_c为环境温度，t为时长，δ为影响因子，C为调节参数。

在一个实施例中，所述确定样本存储件内的当前环境温度，包括：

确定所述样本存储件外的当前外部温度；

确定所述样本存储件的热损失速率，根据当前时长与所述热损失速率确定损失温度；

根据所述当前外部温度和所述损失温度确定样本存储件内的当前环境温度。

在一个实施例中，所述根据所述当前外部温度和所述损失温度确定样本存储件内的当前环境温度，包括：

根据所述当前外部温度和所述损失温度确定温度差，使所述温度差作为样本存储件内的当前环境温度。

在一个实施例中，所述方法还包括：

在确定所述当前温度与目标样本的目标温度的差值小于预设阈值时，将样本存储件内的当前环境温度作为恒温值；

根据所述目标温度和所述恒温值，以及预设的时长、样本温度和环境温度之间的对应关系确定所述目标样本从当前温度达到目标温度需要的后续时长。

第二方面，本发明提供一种样本温度监控装置，包括：

采集模块，用于确定当前时长和样本存储件内的当前环境温度；