[发明专利]成像几何关系标定方法、装置、电子设备以及存储介质

权利要求书

1.一种成像几何关系标定方法，其特征在于，包括：

获取n帧投影图像，其中，所述n帧投影图像是成像系统在n个成像角度下向被检测物体发射X射线进行成像得到，所述被检测物体上设置有m个标志物，所述成像系统包括射线源和射线探测器，所述射线源和所述射线探测器独立运动；

根据每帧投影图像中的标志物的像素坐标，确定所述每帧投影图像对应的成像几何关系，其中，所述每帧投影图像对应的成像几何关系为获取所述每帧投影图像时所述被检测物体与所述成像系统之间的成像几何关系；

当所述n帧投影图像中部分投影图像中已知空间坐标的标志物的数量均大于或等于第一阈值时，所述根据每帧投影图像中的标志物的像素坐标，确定所述每帧投影图像对应的成像几何关系，具体包括：

针对所述部分投影图像中的任意一帧投影图像，根据该帧投影图像中已知空间坐标的标志物的像素坐标和空间坐标，确定该帧投影图像的成像几何关系；

针对所述部分投影图像中的具有共同未知空间坐标的标志物的任意两帧投影图像，根据所述两帧投影图像的成像几何关系、所述未知空间坐标的标志物分别在所述两帧投影图像中的像素坐标，确定所述未知空间坐标的标志物的空间坐标；

根据所述部分投影图像中任意一帧投影图像的成像几何关系，对第一剩余投影图像执行多次位姿估计操作，得到所述第一剩余投影图像的成像几何关系，所述第一剩余投影图像为所述n帧投影图像中除所述部分投影图像之外的投影图像。

2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述多次位姿估计操作中的第i次位姿估计操作包括以下步骤：

从投影图像集合h_i-1中选取投影图像C，以及从投影图像集合w_i-1中选取投影图像D，其中，所述投影图像C和所述投影图像D具有p个相同的标志物，所述投影图像集合h_i-1和所述投影图像集合w_i-1为执行第i-1次位姿估计操作后得到，且所述投影图像集合h_i-1包括所述n帧投影图像中已知成像几何关系的投影图像，投影图像集合w_i-1包括所述n帧投影图像中未知成像几何关系的投影图像；且当i=1时，投影图像集合h₀包括所述部分投影图像，则投影图像集合w₀包括所述第一剩余投影图像；

将所述p个相同的标志物作为第二标志物；

当所述p个第二标志物中已知空间坐标的第二标志物的数量大于或等于第一阈值时，基于2D-3D位姿估计方法，根据所述p个第二标志物中已知空间坐标的第二标志物的空间坐标，以及所述已知空间坐标的第二标志物在所述投影图像D中的像素坐标，确定所述投影图像D对应的成像几何关系；

根据所述投影图像C的成像几何关系、所述投影图像D对应的成像几何关系、所述p个第二标志物中未知空间坐标的第二标志物分别在所述投影图像C和所述投影图像D中的像素坐标，确定所述未知空间坐标的第二标志物的空间坐标；

将所述投影图像D从所述投影图像集合w_i-1中移出，放入到所述投影图像集合h_i-1，分别得到与第i次位姿估计操作对应的投影图像集合h_i和投影图像集合w_i。