[发明专利]一种MEMS封装结构及其制造方法在审

专利信息
申请号: 202111048537.1 申请日: 2021-09-08
公开(公告)号: CN113607328A 公开(公告)日: 2021-11-05
发明(设计)人: 张利松;陈雷;衡文举;沈国强 申请(专利权)人: 星科金朋半导体(江阴)有限公司
主分类号: G01L9/04 分类号: G01L9/04;G01L19/00
代理公司: 南京经纬专利商标代理有限公司 32200 代理人: 赵华
地址: 214434 江苏省无锡*** 国省代码: 江苏;32
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摘要:
搜索关键词: 一种 mems 封装 结构 及其 制造 方法
【权利要求书】:

1.一种MEMS封装结构,其特征在于,其从上而下依次包括压力接头(1)、转接头(2)、压力敏感膜片(3)、金属丝(5)、基座(4)、金属引脚(4-5)和压力传感器芯片(6),

所述压力接头(1)包括压力接头本体和接口(1-3),所述压力接头本体的上端中央开设上下贯通的压力进入通道(1-1),所述压力进入通道(1-1)的出口设置压力分散口(1-2),所述压力分散口(1-2)包括若干对倒置的Y型分散口,所述接口(1-3)凸出压力接头本体的下端边侧;

所述转接头(2)包括转接头本体、转接头前接口(2-1)、转接头后接口(2-2)和通孔Ⅰ(2-3),所述通孔Ⅰ(2-3)设置在转接头本体的中央,所述转接头前接口(2-1)设置在转接头本体的上端外侧,所述转接头后接口(2-2)设置在转接头本体的下端内侧;

所述基座(4)的中央具有基台(4-3),所述基台(4-3)外缘设有向外伸出的若干个端子(4-2),形成MEMS压力传感器检测腔体,所述端子(4-2)的中端开设一通孔Ⅱ(4-7),将所述金属引脚(4-5)穿过该通孔Ⅱ(4-7),所述金属引脚(4-5)的上端通过玻璃烧结物(4-1)与基座(4)的端子(4-2)固连;

所述压力传感器芯片(6)通过粘结胶(7)黏贴在基座(4)的基台(4-3)中央,所述压力传感器芯片(6)通过金属丝(5)与金属引脚(4-5)电连接;

所述基座(4)的端子(4-2)、压力敏感膜片(3)的边缘与转接头(2)的转接头后接口(2-2)对齐,将所述基座(4)向上与转接头(2)固连,并将压力敏感膜片(3)固定在基座(4)与转接头(2)之间;

所述转接头(2)的转接头前接口(2-1)卡入压力接头(1)的接口(1-3)内并固连。

2.根据权利要求1所述的MEMS封装结构,其特征在于,所述压力分散口(1-2)为一对倒置Y型分散口。

3.根据权利要求1所述的MEMS封装结构,其特征在于,所述压力进入通道(1-1)位于通孔Ⅰ(2-3)正上方。

4.根据权利要求1所述的MEMS封装结构,其特征在于,所述压力传感器芯片(6)位于所述通孔Ⅰ(2-3)正下方。

5.根据权利要求1所述的MEMS封装结构,其特征在于,所述金属引脚(4-5)的下端向下超出基台(4-3)的底部。

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