[发明专利]基于天体测量的抛物面天线角度误差系数标定方法及设备在审
申请号: | 202111050481.3 | 申请日: | 2021-09-08 |
公开(公告)号: | CN113804219A | 公开(公告)日: | 2021-12-17 |
发明(设计)人: | 郭永强;张国亭 | 申请(专利权)人: | 中国人民解放军63921部队 |
主分类号: | G01C25/00 | 分类号: | G01C25/00 |
代理公司: | 北京谨诚君睿知识产权代理事务所(特殊普通合伙) 11538 | 代理人: | 延慧;武丽荣 |
地址: | 100094 *** | 国省代码: | 北京;11 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 基于 天体 测量 抛物面天线 角度 误差 系数 标定 方法 设备 | ||
1.一种基于天体测量的抛物面天线角度误差系数标定方法,包括以下步骤:
a、计算天线和波束中心以及天体的可见性;
b、根据可见性在天体中择优选取参考标定源;
c、根据天线和波束中心获取参考标定源的方位俯仰角度误差数据;
d、计算参考标定源各轴系误差修正系数;
e、将误差修正系数载入角误差修正模型中,完成对天线角度的误差标定。
2.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,在所述步骤(a)中,利用天线和波束对天体进行方位或俯仰扫描,获得功率电平与角度数据,采用高斯曲线拟合方法计算出天线和波束中心。
3.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,在所述步骤(a)中,根据天体轨迹在天球的分布特性以及天线部署位置,计算天体的可见性,包括仰角高、弧段长、覆盖天线方位俯仰角度范围;
根据被标校设备的品质因数性能,计算天体的可用因子Y,如下式:
其中,S为天体在观测频率的流量密度,λ为观测波长,G为天线接收增益,T为系统噪声温度,k为玻尔兹曼常数。
4.根据权利要求3所述的方法,其特征在于,在所述步骤(b)中,选择可用因子Y≥0.03dB的天体作为参考标定源。
5.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,在所述步骤(c)中,采用扫描法获取方位俯仰角度误差数据,包括以下步骤:
c1、使天线对准并跟上参考标定源;
c2、引导天线交替对参考标定源进行跟踪、方位扫描、跟踪和俯仰扫描;
c3、记录参考标定源的理论位置、天线实际的方位及俯仰分别记为和信号幅度;
c4、分别找到方位、俯仰扫描中出现的最大信号幅度对应的参考标定源的理论和实际的方位及俯仰位置;
其中,理论的方位及俯仰位置分别记为Atn和Etn,实际的方位及俯仰位置分别记为分别记为Asn和Esn,n为观测的序号;
c5、计算方位误差值△An和俯仰误差值△En分别为:ΔAn=(Asn-Atn)cosEsn,ΔEn=(Esn-Etn);
c6、对某一射电源在一个点的指向观测完成后,计算出天线和波束中心的指向与参考标定源的理论位置的角度误差,通过对各点方位及俯仰的交替扫描,获得一组角度及对应误差的观测数据(Atn、ΔAn、Etn、ΔEn)。
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