[发明专利]显示面板和显示装置

说明书

本申请公开了一种显示面板和显示装置，所述显示面板包括：测试走线、测试端子和测试连接线，所述测试走线电连接所述测试端子，其中，所述测试走线上设置有间断部，所述间断部将所述测试走线与所述测试端子断开；所述显示面板还包括测试连接线，所述测试连接线对应所述间断部设置，且对应所述间断部处连通所述测试走线和测试端子；所述测试连接线采用耐腐蚀的导电材料制成。本申请通过上述方案可提高显示面板的抗腐蚀性能。

技术领域

本申请涉及显示技术领域，尤其涉及一种显示面板和显示装置。

背景技术

显示面板的制程往往是较复杂的，以液晶显示面板为例，其中就包括阵列基板制程工艺、彩膜基板制程工艺，对盒工艺，而且还包括切割工艺，将一大块显示面板母板切割成多个显示面板子板。而由于制程良率的原因，在每一步关键制程后都需要进行一道检测，以保证后续工艺的正常进行，这里以阵列基板的布线工艺为例，阵列基板上的驱动走线，例如扫描线、数据线等信号线需要检测是否存在制程不良例如断线等问题。此时的阵列基板还未进行绑定芯片等制程，因此为了测试良率，一般在阵列基板上形成测试走线，通过测试走线裸露的测试端子连接外部信号，来对阵列基板内部的测试走线进行检测。

但是裸露的测试端子暴露在环境中，很容易被环境中的水汽所腐蚀，而且测试端子中的金属层一旦发生腐蚀，该腐蚀是具有连续性的，会导致整条测试走线无法使用，更有甚者会导致测试走线腐蚀导致显示面板整体报废。因此如何解决测试端子的腐蚀问题成为本领域技术人员亟需解决的问题。

发明内容

本申请的目的是提供一种显示面板和显示装置，以提高显示面板的抗腐蚀性能。

本申请公开了一种显示面板，包括测试走线和测试端子，所述测试走线电连接所述测试端子，所述测试走线上设置有间断部，所述间断部将所述测试走线与所述测试端子断开；所述显示面板还包括测试连接线，所述测试连接线对应所述间断部设置，用于连通所述测试走线和测试端子；所述测试连接线采用耐腐蚀的导电材料制成。

可选的，所述测试端子包括：金属衬垫、绝缘层和导电层，所述绝缘层设置在所述金属衬垫上，所述绝缘层对应所述金属衬垫设置有多个第一过孔，所述金属衬垫对应所述第一过孔的位置裸露；所述导电层通过所述第一过孔连接至所述金属衬垫；所述测试走线与所述测试端子的金属衬垫电连接；所述测试走线与所述金属衬垫位于同一金属层，所述绝缘层延伸覆盖所述测试走线，所述测试连接线对应设置在所述绝缘层上，所述绝缘层对应所述测试走线设置有至少两个第二过孔，所述测试连接线通过所述第二过孔连通所述测试走线的间断部。

可选的，所述测试连接线设置在所述测试走线下，所述测试连接线的两端直接与所述测试走线连接，所述耐腐蚀的导电材料包括铟锡氧化物材料，所述测试连接线采用铟锡氧化物材料制成。

可选的，所述测试连接线与所述测试走线通过半掩膜工艺同步形成。

可选的，所述间断部对应所述显示面板的切割线设置。

可选的，所述间断部将所述测试走线划分为测试主线和测试支线，所述测试主线通过所述测试连接线连接所述测试支线，所述测试支线连接所述金属衬垫。

可选的，所述金属衬垫包括第一金属衬垫和第二金属衬垫，所述第一金属衬垫与所述第二金属衬垫之间通过所述绝缘层隔离，所述第一金属衬垫与所述第二金属衬垫之间的距离大于等于预设长度。

可选的，所述测试支线包括第一分支和第二分支；所述第一金属衬垫连接至所述第一分支，所述第二金属衬垫连接至所述第二分支。

可选的，所述测试端子包括金属衬垫，所述间断部设置在所述测试走线的一端，所述测试连接线的一端连接金属衬垫，所述测试连接线的另一端连接所述测试走线；所述测试走线通过所述测试连接线电连接至所述测试端子。

本申请还公开了一种显示装置，包括上述的显示面板以及驱动所述显示面板的驱动电路。