[发明专利]基于双向光相位调制器的微波源相位噪声测量装置

权利要求书

1.基于双向光相位调制器的微波源相位噪声测量装置，其特征在于，包括：

微波功分器、激光器、光环行器、第一支路、第二支路、光耦合器、光电探测器和信号分析装置，所述第一支路中依次设置有双向光相位调制器、第一光纤布拉格光栅、单模光纤，所述第二支路中依次设置有第二光纤布拉格光栅和可调光延时线，所述光环行器设置有三个端口，三个端口分别与所述激光器、双向光相位调制器、第二光纤布拉格光栅连接；

所述激光器输出的光载波信号由光环行器进入所述双向光相位调制器，调制后的反射信号由所述光环行器进入所述第二光纤布拉格光栅，所述微波功分器设置有两个输出端且分别与双向光相位调制器的两个驱动端口连接，所述微波功分器用于与待测微波源连接并将待测微波源的待测微波信号分成两路电信号；

第一路电信号用于对光载波信号进行相位调制，调制后的光载波信号进入所述第一光纤布拉格光栅时，中心频率处的光信号被反射回所述双向光相位调制器，光边带信号则通过第一光纤布拉格光栅后经所述单模光纤引入长延时；

第二路电信号用于对反射回所述双向光相位调制器的反射光信号进行相位调制，调制后的反射光信号由所述光环行器进入所述第二光纤布拉格光栅，经过所述第二光纤布拉格光栅滤除中心频率，光边带信号则通过所述第二光纤布拉格光栅后通过所述可调光延时线引入可变相移，调节所述可调光延时线的长度改变引入的相移φ，使其满足N为整数，ω_o为待测微波源的角频率，使得第一支路和第二支路中的光信号正交地进入所述光耦合器，耦合后的光信号由所述光电探测器进入所述信号分析装置，所述信号分析装置分析得到待测微波信号的相位噪声。

2.如权利要求1所述的基于双向光相位调制器的微波源相位噪声测量装置，其特征在于，所述光电探测器和信号分析装置之间还设置有低通滤波器。

3.如权利要求2所述的基于双向光相位调制器的微波源相位噪声测量装置，其特征在于，所述信号分析装置为快速傅里叶变换分析仪，所述快速傅里叶变换分析仪接收并分析经所述低通滤波器滤波的低频信号。

4.如权利要求1所述的基于双向光相位调制器的微波源相位噪声测量装置，其特征在于，所述双向光相位调制器为宽带电光调制器。

5.如权利要求1所述的基于双向光相位调制器的微波源相位噪声测量装置，其特征在于，所述微波功分器为宽带微波功分器。

6.如权利要求1所述的基于双向光相位调制器的微波源相位噪声测量装置，其特征在于，所述光电探测器为宽带光电探测器。

7.如权利要求1所述的基于双向光相位调制器的微波源相位噪声测量装置，其特征在于，所述第一光纤布拉格光栅为窄带光纤布拉格光栅。

8.如权利要求1所述的基于双向光相位调制器的微波源相位噪声测量装置，其特征在于，所述第二光纤布拉格光栅为窄带光纤布拉格光栅。