[发明专利]显示面板及其测试端子

说明书

本申请公开了一种显示面板及其测试端子，显示面板包括设置在显示面板内部的测试走线；测试端子连接与测试走线，测试端子包括：第一金属衬垫；第一绝缘层设置在第一金属衬垫上；第二金属衬垫设置在第一绝缘层上，第一金属衬垫和第二金属衬垫连接到同一条测试连接线，第一金属衬垫和第二金属衬垫设置在不同金属层，第二绝缘层设置在第二金属衬垫上，且第二绝缘层对应第一金属衬垫的位置设置多个第一过孔，第二绝缘层对应第二金属衬垫的位置设置有多个第二过孔，以及导电层设置在第二绝缘层上，且通过多个第一过孔与第一金属衬垫电连接，通过多个第二过孔与第二金属衬垫电连接。本申请通过上述方案以提高显示面板的测试端子的抗腐蚀性能。

技术领域

本申请涉及显示技术领域，尤其涉及一种显示面板及其测试端子。

背景技术

显示面板的制程往往是较复杂的，以液晶显示面板为例，其中就包括阵列基板制程工艺、彩膜基板制程工艺，对盒工艺，而且还包括切割工艺，将一大块显示面板母板切割成多个显示面板子板。而由于制程良率的原因，在每一步关键制程后都需要进行一定检测，以保证后续工艺的正常进行，这里以阵列基板的布线工艺为例，阵列基板上的驱动走线，例如扫描线、数据线等信号线需要检测是否存在制程不良例如断线等问题。此时的阵列基板还未进行绑定芯片等制程，因此为了测试良率，一般在阵列基板上形成测试走线，通过测试走线裸露的测试端子连接外部信号，来对阵列基板内部的测试走线进行检测。

但是裸露的测试端子暴露在环境中，很容易被环境中的水汽所腐蚀，而且测试端子中的金属层一旦发生腐蚀，该腐蚀是具有连续性的，会导致整条测试走线无法使用，更有甚者会导致测试走线腐蚀导致显示面板整体报废。因此如何解决测试端子的腐蚀问题成为本领域技术人员亟需解决的问题。

发明内容

本申请的目的是提供一种显示面板及其测试端子，以提高显示面板的测试端子的抗腐蚀性能。

本申请公开了一种显示面板的测试端子，所述显示面板包括设置在显示面板内部的测试走线和测试端子；所述测试端子连接于所述测试走线，所述测试端子包括：第一金属衬垫、第一绝缘层、第二金属衬垫、第二绝缘层和导电层；第一绝缘层设置在所述第一金属衬垫上；第二金属衬垫设置在所述第一绝缘层上，所述第一金属衬垫和所述第二金属衬垫连接到同一条所述测试走线，所述第一金属衬垫和所述第二金属衬垫设置在不同层，且所述第一金属衬垫和所述第二金属衬垫之间通过所述第一绝缘层隔离；第二绝缘层设置在所述第二金属衬垫上，且所述第二绝缘层设置有多个第一过孔，多个所述第一过孔与所述第一金属衬垫的位置对应，所述第一金属衬垫对应所述第一过孔位置处裸露，所述第二绝缘层设置有多个第二过孔，多个所述第二过孔对应所述第二金属衬垫的位置，所述第二金属衬垫对应所述第二过孔的位置处裸露；以及导电层设置在所述第二绝缘层上，且所述导电层通过多个所述第一过孔和多个所述第二过孔，分别与所述第一金属衬垫电和所述第二金属衬垫电连接。

可选的，所述第一金属衬垫与所述第二金属衬垫在所述显示面板的衬底上的正投影不重合。

可选的，所述测试走线包括测试连接线和测试主线，所述测试主线通过所述测试连接线与所述测试端子连接；所述测试连接线包括第一金属连接线和第二金属连接线，所述第一金属连接线与所述第一金属衬垫位于同一层，所述第二金属连接线与所述第二金属衬垫位于同一层。

可选的，所述测试端子还包括第一分支和第二分支，所述第一分支与所述第一金属衬垫同层设置，所述第二分支与所述第二金属衬垫同层设置；所述第一金属衬垫通过所述第一分支连接到所述第一金属连接线，所述第二金属衬垫通过所述第二分支连接到所述第二金属连接线；所述第一分支与所述第二分支通过所述绝缘层隔离；所述第一分支的长度大于等于第二预设长度，所述第二分支的长度大于等于第二预设长度。

可选的，所述测试主线与所述第一金属连接线设置在同一层，且所述测试主线直接连接所述第一金属连接线，所述测试主线通过转接孔与所述第二金属连接线。