[发明专利]气体探测器、蒸发器以及制冷系统在审
| 申请号： | 202111061791.5 | 申请日： | 2021-09-10 |
| 公开（公告）号： | CN115791671A | 公开（公告）日： | 2023-03-14 |
| 发明（设计）人： | 李慧;田海 | 申请（专利权）人： | 开利公司 |
| 主分类号： | G01N21/3504 | 分类号： | G01N21/3504;G01N33/00;F25B39/02;F25B49/00 |
| 代理公司： | 中国专利代理(香港)有限公司 72001 | 代理人： | 孙彦旎;王玮 |
| 地址： | 美国佛*** | 国省代码： | 暂无信息 |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | |||
| 搜索关键词： | 气体探测器 蒸发器 以及 制冷系统 | ||
【权利要求书】：
1.一种气体探测器，所述气体探测器包括气室和位于所述气室内部的光源，其特征在于，所述气室的内壁的外表面涂覆有第一覆层，用于折射或反射来自所述光源的光线，并且在所述第一覆层的外侧涂覆有第二覆层，所述第二覆层由透明的材料制成。
2.根据权利要求1所述的气体探测器，其特征在于，所述第一覆层和所述第二覆层覆盖在所述气体探测器的气室的内壁的整个表面。
3.根据权利要求2所述的气体探测器，其特征在于，所述第二覆层由硅玻璃制成。
4.根据权利要求1-3中任一项所述的气体探测器，其特征在于，所述第一覆层的厚度均匀一致，并且所述第二覆层的厚度均匀一致。
5.根据权利要求1-3中任一项所述的气体探测器，其特征在于，所述第一覆层包含金属，并且所述金属选自银、金以及它们的合金。
6.根据权利要求1-3中任一项所述的气体探测器，其特征在于，所述第一覆层和所述第二覆层的表面是光滑的。
7.根据权利要求1-3中任一项所述的气体探测器，其特征在于，所述气体探测器是非色散红外气体传感器。
8.一种蒸发器，其特征在于，所述蒸发器设置有根据权利要求1-7中任一项所述的气体探测器。
9.根据权利要求8所述的蒸发器，其特征在于，所述气体探测器设置在所述蒸发器的壳体的外侧。
10.一种制冷系统，其特征在于，所述制冷系统配置有根据权利要求8或9所述的蒸发器。
下载完整专利技术内容需要扣除积分，VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息，商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于开利公司，未经开利公司许可，擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作，请联系【客服】
本文链接：http://www.vipzhuanli.com/pat/books/202111061791.5/1.html，转载请声明来源钻瓜专利网。
