[发明专利]三维目标的测量方法、装置、影像仪及存储介质

权利要求书

1.一种三维目标的测量方法，应用于影像仪，包括：

基于与所述影像仪装置的标定面具有设定拍摄角度的摄像组件，对位于所述标定面的三维目标进行拍摄，得到所述三维目标的待测图像；

对所述三维目标在所述待测图像中的目标区域进行识别，从识别得到的目标区域中获取多个关键位置信息；

针对每个所述关键位置信息，得到对应于所述关键位置信息的高度信息，所述高度信息用于指示所述三维目标的真实高度；

根据多个所述关键位置信息及其对应的所述高度信息，确定所述待测图像的校正位置信息；

根据所述校正位置信息进行所述三维目标的测量，得到所述三维目标的尺寸测量结果。

2.如权利要求1所述的测量方法，其特征在于，所述针对每个所述关键位置信息，得到对应于所述关键位置信息的高度信息，包括：

针对每个所述关键位置信息，对所述三维目标在真实空间中的测量面进行定位，确定对应于所述关键位置信息的待测位置；

对所述待测位置的真实高度进行测量，得到对应于所述关键位置信息的高度信息。

3.如权利要求1所述的测量方法，其特征在于，所述根据多个所述关键位置信息及其对应的所述高度信息，确定所述待测图像的校正位置信息，包括：

根据多个所述关键位置信息及其对应的所述高度信息，计算所述标定面与所述三维目标在真实空间中测量面之间的夹角；

通过所述夹角，计算得到用于校正所述待测图像由所述标定面映射至所述测量面的旋转参数和平移参数；

针对所述待测图像中每个图像位置信息，根据所述旋转参数和所述平移参数，计算得到对应于所述图像位置信息的校正位置信息；

由所述待测图像中各所述图像位置信息对应的校正位置信息，得到所述待测图像的校正位置信息。

4.如权利要求1所述的测量方法，其特征在于，所述根据所述校正位置信息进行所述三维目标的测量，得到所述三维目标的尺寸测量结果，包括：

根据所述校正位置信息对所述待测图像进行校正，得到校正图像；

在所述校正图像中对所述三维目标的测量项进行测量，得到所述尺寸测量结果。

5.如权利要求4所述的测量方法，其特征在于，所述根据所述校正位置信息对所述待测图像进行校正，得到校正图像，包括：

根据所述校正位置信息，对所述待测图像进行三维目标在真实空间中的测量面与所述标定面之间的投影变换，得到所述校正图像。

6.如权利要求1所述的测量方法，其特征在于，所述根据所述校正位置信息进行所述三维目标的测量，得到所述三维目标的尺寸测量结果，包括：

在所述待测图像中确定所述三维目标的测量项；

根据所述校正位置信息对所述测量项进行校正，得到校正测量项；

对所述校正测量项进行测量，得到所述尺寸测量结果。

7.如权利要求6所述的测量方法，其特征在于，所述根据所述校正位置信息对所述测量项进行校正，得到校正测量项，包括：

根据所述校正位置信息，对所述测量项进行所述三维目标在真实空间中的测量面与所述标定面之间的投影变换，得到所述校正测量项。

8.一种三维目标的测量装置，应用于影像仪，包括：

图像获取模块，用于基于与所述影像仪装置的标定面具有设定拍摄角度的摄像组件，对位于所述标定面的三维目标进行拍摄，得到所述三维目标的待测图像；

位置获取模块，用于对所述三维目标在所述待测图像中的目标区域进行识别，从识别得到的目标区域中获取多个关键位置信息；

高度获取模块，用于针对每个所述关键位置信息，得到对应于所述关键位置信息的高度信息，所述高度信息用于指示所述三维目标的真实高度；

校正信息获取模块，用于根据多个所述关键位置信息及其对应的所述高度信息，确定所述待测图像的校正位置信息；

测量模块，用于根据所述校正位置信息进行所述三维目标的测量，得到所述三维目标的尺寸测量结果。