[发明专利]多模态可重构物理不可克隆函数电路及其方法有效

专利信息
申请号: 202111066285.5 申请日: 2021-09-13
公开(公告)号: CN113515783B 公开(公告)日: 2021-12-14
发明(设计)人: 崔益军;黎江;刘伟强;王成华 申请(专利权)人: 南京航空航天大学
主分类号: G06F21/71 分类号: G06F21/71;H04L9/32
代理公司: 南京钟山专利代理有限公司 32252 代理人: 张明浩
地址: 210016 江*** 国省代码: 江苏;32
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摘要:
搜索关键词: 多模态可重构 物理 不可 克隆 函数 电路 及其 方法
【权利要求书】:

1.多模态可重构物理不可克隆函数电路的使用方法,应用多模态可重构物理不可克隆函数电路,其特征是:多模态可重构物理不可克隆函数电路包括PUF基本单元,所述的PUF基本单元包括顶部数据选择器(1)、多个1T1R单元(2)、底部数据选择器(3)以及读取电路(4),各1T1R单元(2)以并联方式分别与同一个顶部数据选择器(1)和底部数据选择器(3)连接,所述的读取电路(4)与底部数据选择器(3)连接,所述的顶部数据选择器(1)和底部数据选择器(3)均能输入激励信号和可选择的两种编程电压Vprogram1和Vprogram2,读取电路(4)包括接地电阻RG1和RG2,分别与底部数据选择器(3)连接,用于适配不同的编程电压,通过选择不同的Vprogram1和Vprogram2以及接地电阻RG1和RG2,能使PUF基本单元在基于RRAM弱写机制模态和RRAM并联竞争机制模态之间切换;使用方法具体为:

通过顶部数据选择器(1)、底部数据选择器(3)以及读取电路(4)选择Vprogram1和RG1,则PUF基本单元配置为基于RRAM弱写机制模态,当施加适当的正向电压时,会有50%的RRAM切换到低阻态,因此RRAM的这种弱写机制能作为PUF的熵源,通过激励信号打开任意数量的1T1R单元,然后施加Vprogram1,同时完成多个RRAM的弱写操作;

通过顶部数据选择器(1)、底部数据选择器(3)以及读取电路(4)选择Vprogram2和RG2,则PUF基本单元配置为RRAM并联竞争机制模态,由于RRAM期间之间电阻状态转变的不一致性,利用两个并联的1T1R单元产生1 bit的响应值,当两个并联RRAM都处在高阻态时,通过Vprogram2施加超过正向阈值的电压,两个RRAM中有且只会有一个RRAM会切换到低阻态,并且在重复的操作中,仍旧只有这个RRAM会完成阻值状态的转变,从而作为PUF的熵源,产生1bit稳定的响应值。

2.根据权利要求1所述的多模态可重构物理不可克隆函数电路的使用方法,其特征是:所述的1T1R单元(2)由一晶体管和一RRAM串联而成。

3.根据权利要求2所述的多模态可重构物理不可克隆函数电路的使用方法,其特征是:所述的1T1R单元(2)上设置有用于配置晶体管的激励信号输入端。

4.根据权利要求3所述的多模态可重构物理不可克隆函数电路的使用方法,其特征是:所述的晶体管为NMOS。

5.根据权利要求1所述的多模态可重构物理不可克隆函数电路的使用方法,其特征是:多个PUF单元连接构成一个PUF阵列,多个PUF阵列连接构成一个PUF列,多个PUF列连接构成一个PUF块,多个PUF块构成完整的PUF芯片。

6.根据权利要求5所述的多模态可重构物理不可克隆函数电路的使用方法,其特征是:所述的PUF芯片连接有外围电路,所述的外围电路包括时序控制电路、列解码器和编程驱动器、寻址选择以及读取选择。

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