[发明专利]芯片接口的测试方法、装置、计算机设备和存储介质

说明书

本申请涉及一种芯片接口的测试方法、装置、计算机设备和存储介质。所述方法包括：获取测试数据以及测试需求；根据测试需求配置时钟速率以及数据处理模式，数据处理模式包括同步模式或异步模式；根据已配置的数据处理模式以及已配置的时钟速率对测试数据进行传输，得到传输结果；根据传输结果得到芯片接口的测试结果。本方法根据不同的测试需求去配置不同的时钟速率以及数据传输模式，可以在不同的数据传输模式下对数据进行传输，并根据传输结果对传输过程进行评价得到测试结果，提高了芯片接口测试的通用性。

技术领域

本申请涉及芯片技术领域，特别是涉及一种芯片接口的测试方法、装置、计算机设备和存储介质。

背景技术

随着汽车电子化进程的快速发展,汽车功能的不断增多，对于核心车载芯片的多功能、高性能、低成本、高安全性的要求变得越来越强烈。比如：车载电源芯片、车载导航芯片、车载摄像头芯片、重力传感器芯片等等，对汽车的性能起着至关重要的作用。车载芯片的高效传输是影响数据传输的重要因素，且直接影响车载网络的数据延迟和网关路由等网络性能。

车载芯片内部包括FPGA（Field Programmable Gate Array，现场可编程门阵列）、DSP（Digital Signal Processing，数字信号处理）处理器及ARM处理器等，EMIF（ExternalMemory Interface，外部存储器接口）是一种嵌入式硬件平台常用高速并行接口，可为车载芯片提供与不同类型存储器、高速数据处理器和高速数据收发器之间的连接。

新的具备EMIF接口的芯片生产完成后，需要对EMIF接口进行时序测试。目前，由于处理器的特性，无法对在不同模式下的通过接口进行测试，因此芯片接口测试的通用性较差。

发明内容

基于此，有必要针对上述技术问题，提供一种能够提高芯片接口测试通用性的芯片接口的测试方法、装置、计算机设备和存储介质。

第一方面，提供了一种芯片接口的测试方法，该方法包括：

获取测试数据以及测试需求；

根据测试需求配置时钟速率以及数据处理模式，数据处理模式包括同步模式或异步模式；

根据已配置的数据处理模式以及已配置的时钟速率对测试数据进行传输，得到传输结果；

根据传输结果得到芯片接口的测试结果。

在其中一个实施例中，根据测试需求配置时钟速率以及接口的数据处理模式之后，还包括：

当数据处理模式为同步模式时，配置内置同步寄存器以及burst长度；

当数据处理模式为异步模式时，配置内置异步寄存器；

相应的，根据已配置的数据处理模式以及已配置的时钟速率测试数据进行传输，得到传输结果，包括：

根据已配置的数据处理模式、已配置的时钟速率通过已配置的内置寄存器对测试数据进行传输，得到传输结果，已配置的内置寄存器包括已配置的同步寄存器或已配置的异步寄存器。

在其中一个实施例中，根据已配置的数据处理模式、已配置的时钟速率通过已配置的内置寄存器对测试数据进行传输，得到传输结果，包括：

当测试需求为同步非burst读操作时，读取内置FIFO存储器状态，当FIFO存储器状态为非满时，根据同步状态控制策略以及数据地址通过内置同步寄存器直接从外部设备中读取数据，得到传输结果；

当测试需求为同步burst读操作时，根据同步状态控制策略以及DMA策略通过内置同步寄存器直接从外部设备中进行数据读取，得到传输结果。

在其中一个实施例中，根据已配置的数据处理模式、已配置的时钟速率通过已配置的内置寄存器对测试数据进行传输，得到传输结果，包括：