[发明专利]电流检测电路及方法

权利要求书

1.一种电流检测电路，其特征在于，包括：

电感，电耦合在恒压高电位和第一节点之间；

交流接入模块，第一端连接第一节点，第二端连接第二节点，第三端接地，用于将电感的电流接入至所述第一节点和所述第二节点；所述交流接入模块包括第一晶体管和第二晶体管，所述第一晶体管的栅极和所述第二晶体管的栅极连接交流接入信号，所述第一晶体管的源极和所述第二晶体管的源极均连接第一节点，所述第一晶体管的漏极接地，所述第二晶体管的漏极连接所述第二节点；

直流偏置模块，第一端连接恒压高电位，第二端连接所述第二节点，第三端连接第三节点，用于提供第一直流偏置电流至所述第二节点，以及提供第二直流偏置电流至所述第三节点；

运算放大器，第一输入端连接所述第二节点，第二输入端连接所述第三节点，输出端连接第四节点；

反馈模块，第一端连接所述第四节点，第二端连接恒压高电位，第三端连接第三节点，用于提供反馈电流至所述第三节点；

电流汇总模块，第一端连接所述第二节点，第二端连接所述第三节点，第三端接地，用于汇总流经所述第二节点的所述电感的电流和所述第一直流偏置电流，以及流经所述第三节点的所述第二直流偏置电流和所述反馈电流；

电流输出模块，第一端连接所述第四节点，第二端连接恒压高电位，第三端输出检测电流；

其中，所述运算放大器的第一输入端设置有第一输入晶体管，所述第一输入端连接所述第一输入晶体管的源极；所述运算放大器的第二输入端设置有第二输入晶体管，所述第二输入端连接所述第二输入晶体管的漏极。

2.如权利要求1所述的电流检测电路，其特征在于，所述第一输入晶体管和所述第二输入晶体管为BJT晶体管。

3.如权利要求1所述的电流检测电路，其特征在于，所述电流汇总模块包括第三晶体管和第四晶体管，所述第三晶体管的栅极和所述第四晶体管的栅极连接第二常开控制信号，所述第三晶体管的源极连接所述第二节点，所述第四晶体管的源极连接所述第三节点，第三晶体管的漏极和所述第四晶体管的漏极接地。

4.如权利要求3所述的电流检测电路，其特征在于，所述运算放大器还包括第五晶体管、第六晶体管、第七晶体管和第八晶体管；

所述第五晶体管的栅极连接所述第五晶体管的源极和所述第六晶体管的栅极，所述第五晶体管的漏极连接所述第一输入晶体管的漏极，所述第六晶体管的漏极连接所述第二输入晶体管的源极；

所述第七晶体管的栅极和第八晶体管的栅极连接第一常开控制信号，所述第七晶体管的源极和所述第八晶体管的源极连接恒压高电位，所述第七晶体管的漏极连接所述第五晶体管的源极，所述第八晶体管的漏极连接所述第六晶体管的源极连接。

5.如权利要求4所述的电流检测电路，其特征在于，所述直流偏置模块包括第九晶体管和第十晶体管，所述第九晶体管的栅极和所述第十晶体管的栅极连接所述第一常开控制信号，所述第九晶体管的源极和所述第十晶体管的源极连接恒压高电位，所述第九晶体管的漏极连接第二节点，所述第十晶体管的漏极连接第三节点。

6.如权利要求4所述的电流检测电路，其特征在于，所述反馈模块包括第十一晶体管，所述第十一晶体管的栅极连接所述第六晶体管的源极，所述第十一晶体管的源极连接恒压高电位，所述第十一晶体管的漏极连接所述第三节点。

7.如权利要求4所述的电流检测电路，其特征在于，所述电流输出模块包括第十二晶体管，所述第十二晶体管的栅极连接所述第六晶体管的源极，所述第十二晶体管的源极连接恒压高电位，所述第十二晶体管的漏极输出所述检测电流。

8.如权利要求3所述的电流检测电路，其特征在于，所述第二晶体管的导通电阻值、所述第三晶体管的导通电阻值和所述第四晶体管的导通电阻值相等且与所述第一晶体管的导通电阻值的比值为适配系数K，K为常数，且晶体管的导通电阻值与该晶体管中串联的子晶体管的数量成比例。