[发明专利]芯片测试系统及方法

说明书

本发明公开了一种芯片测试系统及方法，芯片测试系统的第一测试模块、测试控制模块和测试判断模块与功能电路电连接，功能电路包括至少一个功能单元，第一测试模块包括与功能单元一一对应电连接的采样单元，采样单元包括采样寄存器、第一与门和第一或门；测试控制模块分别与各第一测试模块电连接，用于根据使能序列使能第一测试模块；第一测试模块用于根据测试判断模块发送的测试信号输出测试结果信号；测试判断模块用于根据测试结果信号确定功能电路是否正常。本发明实施例的第一测试模块包括的器件数量较少，结构简单，便于操作。同时，相较于使用昂贵的测试机台实验设备，本发明实施例中的器件较为常见、价格低廉，降低了测试成本。

技术领域

本发明实施例涉及芯片测试技术领域，尤其涉及一种芯片测试系统及方法。

背景技术

芯片的门控时钟、复位电路以及各个引脚是芯片的基础组成部分，他们的功能是否正常决定了芯片是否可以稳定工作，因此，在芯片出厂前需对芯片进行测试。

现有芯片进行测试时，大多使用专业测试机台实验设备对芯片进行功能测试，而测试机台实验设备使用成本较为昂贵，会增加芯片的测试成本，且现有技术进行芯片测试时，测试电路较为复杂。

发明内容

本发明提供一种芯片测试系统及方法，以实现降低芯片测试系统的复杂度和测试成本。

第一方面，本发明实施例提供了一种芯片测试系统，所述芯片包括输入输出引脚和至少一个功能电路，至少一个所述功能电路包括门控时钟电路和/或复位电路；所述芯片测试系统包括：与所述功能电路一一对应电连接的第一测试模块、测试控制模块、测试判断模块；所述功能电路包括至少一个功能单元，所述第一测试模块包括与所述功能单元一一对应电连接的采样单元，所述采样单元包括采样寄存器、第一与门和第一或门，所述第一测试模块还包括第一输出端和第二输出端；

所述测试判断模块分别与所述输入输出引脚、所述测试控制模块电连接，用于向所述测试控制模块发送使能序列；

所述测试控制模块分别与各所述第一测试模块电连接，用于根据所述使能序列使能所述第一测试模块；所述测试判断模块还用于向所述输入输出引脚中输入引脚发送对应于所述使能序列的测试信号；

所述功能单元的输入端与所述测试控制模块电连接，所述采样寄存器的信号输入端与所述输入输出引脚中的输入引脚电连接，所述采样寄存器的功能测试输入端与对应的所述功能单元的输出端电连接，所述采样寄存器的输出端分别与所述第一或门的第一输入端和所述第一与门的第一输入端电连接；

所述第一或门的第二输入端作为所述采样单元的旁路端与所述测试控制模块电连接，所述第一或门的输出端与所述第一测试模块的第一输出端电连接；

所述第一与门的第二输入端经非门接入所述测试控制模块的旁路端，所述第一与门的输出端与所述第一测试模块的第二输出端电连接；

所述第一测试模块用于根据所述采样寄存器的测试信号输入端输入的所述测试信号以及所述采样寄存器的功能测试输入端输入的电路信号，通过所述第一输出端和所述第二输出端向对应电连接的所述输入输出引脚中的输出引脚输出测试结果信号；

所述测试判断模块还用于根据所述测试结果信号确定被使能的所述第一测试模块所连接的所述功能电路是否正常。