[发明专利]基于β射线法的气体中颗粒物浓度直读测算方法及装置在审
申请号: | 202111079440.7 | 申请日: | 2021-09-15 |
公开(公告)号: | CN113670783A | 公开(公告)日: | 2021-11-19 |
发明(设计)人: | 王庚;谷彦武 | 申请(专利权)人: | 王庚 |
主分类号: | G01N15/06 | 分类号: | G01N15/06 |
代理公司: | 石家庄科诚专利事务所(普通合伙) 13113 | 代理人: | 张红卫;张帆 |
地址: | 050000 河北省石家*** | 国省代码: | 河北;13 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 基于 射线 气体 颗粒 浓度 直读 测算 方法 装置 | ||
1.一种基于β射线法的气体中颗粒物浓度直读测算方法,其特征在于:设不含颗粒物气体的射线量I1、含颗粒物气体的射线量I2、颗粒物的质量衰减系数μm及β射线辐照气体体积V为已知,则气体中颗粒物浓度C为:
式中,C的单位为mg/m3,V的单位为m3,μm的单位为mg-1,I1与I2的单位一致。
2.根据权利要求1所述的基于β射线法的气体中颗粒物浓度直读测算方法,其特征在于:含颗粒物气体的射线量I2通过测量获值,并通过计算获得I1;确定μm值,计算V,最终由式1计算出C。
3.根据权利要求2所述的基于β射线法的气体中颗粒物浓度直读测算方法,其特征在于该方法包括以下步骤:
步骤一:由β射线法颗粒物测定仪直接测量含颗粒物气体的射线量I2,同时测得被测气体的压力P、温度T;根据P、T,计算I1;
步骤二:确定μm,计算V;
步骤三:根据式1计算C。
4.根据权利要求1所述的基于β射线法的气体中颗粒物浓度直读测算方法,其特征在于实时动态测量时,不含颗粒物气体的射线量I1动态、含颗粒物气体的射线量I2、颗粒物的质量衰减系数μm、β射线照射气体的测试时长t、气流通过辐照区域的横截面积S、气体的流动速度v、β射线的辐照体积V为已知,则气体中颗粒物浓度c动态为:
式中,c动态的单位为mg/m3,μm的单位为mg-1,v的单位为m/s,V的单位为m3,t的单位为s,S的单位为m2,I1动态与I2的单位一致。
5.根据权利要求4所述的基于β射线法的气体中颗粒物浓度直读测算方法,其特征在于设β射线穿过不含颗粒物气体辐射量的静态测量数值I1静,则I1动态为:
6.根据权利要求5所述的基于β射线法的气体中颗粒物浓度直读测算方法,其特征在于计算I1静的步骤包括:
A.在标准实验条件下进行测量和计算
A1.在设定的温度T定和压力P定的条件下,测量出不含颗粒物气体的射线量I定,测算出β射线的辐照体积V和气流通过辐照区域的横截面积S;
A2.计算出β射线照射不含颗粒物气体在温度每变化1摄氏度溢出或溢入辐照体积V的距离LT以及压力每变化1Pa溢出或溢入辐照体积V的距离Lp;
B.在工况条件下实地测量
实地测量被测气体的温度T况和压力P况的数值;
C.计算I1静:
7.根据权利要求6所述的基于β射线法的气体中颗粒物浓度直读测算方法,其特征在于
LT为不同温度T'条件下LT'数值的平均数,Lp为不同压力p'条件下Lp'数值的平均数,LT'、Lp'的计算公式为:
式中,I1”在实验室测量若干组不同温度T'或不同压力p'条件下的β射线穿过不含颗粒物气体的射线量数值。
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