[发明专利]一种可检测反射片异常状态的超声波流量计及检测方法

权利要求书

1.一种检测反射片异常状态方法，其特征在于，包括：

根据超声波反射片的角度变化值和/或超声波反射片的表面粗糙度和/或超声波反射片的位移数据和/或超声波反射片的晃动数据判断超声波反射片的状态是否异常。

2.根据权利要求1所述的检测反射片异常状态方法，其特征在于，所述超声波反射片的角度变化值是单个反射片预设时间段内的角度变化值、两个超声波发射片预设时间段内的角度变化值之差的任一项或多项组合。

3.根据权利要求1所述的检测反射片异常状态方法，其特征在于，所述超声波反射片的表面粗糙度是根据检测声波的发射强度和接收强度之差得到和/或根据激光探测器检测的超声波反射片表面平整度得到和/或根据超声波反射片一定时间内的厚度变化值得到。

4.根据权利要求1所述的检测反射片异常状态方法，其特征在于，所述超声波反射片的位移数据是超声波反射片支架预设时间段内的水平位置变化值、超声波反射片支架预设时间段内的垂直位置变化值、超声波反射片与超声波反射片支架预设时间段内的相对位置变化值的任一项或多项组合。

5.根据权利要求1所述的检测反射片异常状态方法，其特征在于，所述超声波反射片的晃动数据是根据超声波反射片支架连续多个采样时刻的位置数据变化和/或超声波反射片与超声波反射片支架连续多个采样时刻的相对位置数据变化计算得到。

6.根据权利要求1所述的检测反射片异常状态方法，其特征在于，所述根据超声波反射片的角度变化值和/或超声波反射片的表面粗糙度和/或超声波反射片的位移数据和/或超声波反射片的晃动数据判断超声波反射片的状态是否异常，包括步骤：

根据超声波反射片的角度变化值和/或超声波反射片的表面粗糙度和/或超声波反射片的位移数据和/或超声波反射片的晃动数据计算超声波反射片的异常指数；

根据超声波换能器的声波接收范围和计量精度计算超声波反射片的异常容许度；

当超声波反射片的异常指数大于异常容许度时，则判定超声波反射片的状态异常。

7.根据权利要求6所述的检测反射片异常状态方法，其特征在于，所述根据超声波反射片的角度变化值和/或超声波反射片的表面粗糙度和/或超声波反射片的位移数据和/或超声波反射片的晃动数据计算超声波反射片的异常指数，是：根据超声波反射片的角度变化对超声波接收的影响计算超声波反射片的异常指数、根据超声波反射片的表面粗糙度与超声波反射衰减的关系计算超声波反射片的异常指数、根据超声波反射片的位移对超声波接收的影响计算超声波反射片的异常指数、根据超声波反射片的晃动对超声波接收的影响计算超声波反射片的异常指数、根据超声波反射片的角度变化对超声波接收的影响和超声波反射片的表面粗糙度与超声波反射衰减的关系计算超声波反射片的异常指数、根据超声波反射片的角度变化和位移对超声波接收的影响计算超声波反射片的异常指数、根据超声波反射片的角度变化和晃动对超声波接收的影响计算超声波反射片的异常指数、根据超声波反射片的表面粗糙度与超声波反射衰减的关系和超声波反射片的位移对超声波接收的影响计算超声波反射片的异常指数、根据超声波反射片的表面粗糙度与超声波反射衰减的关系和超声波反射片的晃动对超声波接收的影响计算超声波反射片的异常指数、根据超声波反射片的位移和晃动对超声波接收的影响计算超声波反射片的异常指数、根据超声波反射片的角度变化和位移对超声波接收的影响和超声波反射片的表面粗糙度与超声波反射衰减的关系计算超声波反射片的异常指数、根据超声波反射片的角度变化和晃动对超声波接收的影响和超声波反射片的表面粗糙度与超声波反射衰减的关系计算超声波反射片的异常指数、根据超声波反射片的角度变化和位移和晃动对超声波接收的影响计算超声波反射片的异常指数、根据超声波反射片的位移和晃动对超声波接收的影响和超声波反射片的表面粗糙度与超声波反射衰减的关系计算超声波反射片的异常指数、根据超声波反射片的角度变化和位移和晃动对超声波接收的影响和超声波反射片的表面粗糙度与超声波反射衰减的关系计算超声波反射片的异常指数的任一项。