[发明专利]一种可调整反射片支架的超声波流量计

权利要求书

1.一种可调整反射片支架的超声波流量计，包括超声波流量计壳体、超声波换能器、超声波换能器下方的反射片及反射片支架，其特征在于：所述反射片支架连接用于调整反射片支架的角度和位置的调节装置，所述调节装置采用超声波反射片异常校正算法对反射片支架进行调整。

2.根据权利要求1所述的可调整反射片支架的超声波流量计，其特征在于，调节装置与反射片支架的连接方式包括夹持、胶粘、焊接、紧配、螺纹的任一项或多项组合。

3.根据权利要求1所述的可调整反射片支架的超声波流量计，其特征在于，所述调节装置采用超声波反射片异常校正算法对反射片支架进行调整，包括步骤：

根据超声波反射片的角度变化值和/或超声波反射片的表面粗糙度和/或超声波反射片的位移数据计算超声波反射片的异常指数；

根据超声波换能器的超声波接收范围和/或接收能力计算异常容许值；

当超声波反射片的异常指数大于异常容许值时，根据异常指数和异常容许值的差值计算需要调整的超声波反射片的角度和/或位移并进行调整。

4.根据权利要求3所述的可调整反射片支架的超声波流量计，其特征在于，所述超声波反射片的角度变化值是单个反射片预设时间段内的角度变化值、两个超声波发射片预设时间段内的角度变化值之差的任一项或多项组合。

5.根据权利要求3所述的可调整反射片支架的超声波流量计，其特征在于，所述超声波反射片的表面粗糙度是根据检测声波的发射强度和接收强度之差得到和/或根据激光探测器检测的超声波反射片表面平整度计算得到和/或根据超声波反射片一定时间内的厚度变化值计算得到。

6.根据权利要求3所述的可调整反射片支架的超声波流量计，其特征在于，所述超声波反射片的位移数据是超声波反射片支架预设时间段内的水平位置变化值、超声波反射片支架预设时间段内的垂直位置变化值、超声波反射片与超声波反射片支架预设时间段内的相对位置变化值的任一项或多项组合。

7.根据权利要求3所述的可调整反射片支架的超声波流量计，其特征在于，所述根据超声波反射片的角度变化值和/或超声波反射片的表面粗糙度和/或超声波反射片的位移数据计算超声波反射片的异常指数，是：根据超声波反射片的角度变化对超声波接收的影响计算超声波反射片的异常指数、根据超声波反射片的表面粗糙度与超声波反射衰减的关系计算超声波反射片的异常指数、根据超声波反射片的位移对超声波接收的影响计算超声波反射片的异常指数、根据超声波反射片的角度变化对超声波接收的影响和超声波反射片的表面粗糙度与超声波反射衰减的关系计算超声波反射片的异常指数、根据超声波反射片的角度变化和位移对超声波接收的影响计算超声波反射片的异常指数、根据超声波反射片的表面粗糙度与超声波反射衰减的关系和超声波反射片的位移对超声波接收的影响计算超声波反射片的异常指数、根据超声波反射片的角度变化和位移对超声波接收的影响和超声波反射片的表面粗糙度与超声波反射衰减的关系计算超声波反射片的异常指数的任一项。

8.根据权利要求3所述的可调整反射片支架的超声波流量计，其特征在于，所述根据超声波换能器的超声波接收范围和/或接收能力计算异常容许值，是：根据超声波换能器的超声波接收范围计算超声波反射片的最大偏移角度并以此计算异常容许值、根据超声波换能器的接收能力计算超声波最大衰减值并以此计算异常容许值、根据超声波反射片的最大偏移角度和超声波最大衰减值计算异常容许值的任一项。

9.根据权利要求3所述的可调整反射片支架的超声波流量计，其特征在于，所述根据异常指数和异常容许值的差值计算需要调整的超声波反射片的角度和/或位移并进行调整，包括步骤：

计算超声波反射片的异常指数和异常容许值的差值；

根据超声波反射片的异常指数与超声波反射片的角度和/或位移数据的关系计算差值对应的超声波反射片的角度和/或位移数据，即为需要调整的超声波反射片的角度和/或位移；

根据需要调整的超声波反射片的角度和/或位移将超声波发射片或反射片支架挤压到相应的角度和/或位移。

10.根据权利要求1所述的可调整反射片支架的超声波流量计，其特征在于，所述对反射片支架进行调整的方式包括旋转调节装置使反射片支架角度变化、平移调节装置使反射片支架位置变化、调节装置包绕并挤压反射片支架使支架角度和位置变化的任一项或多项组合。