[发明专利]用于双平面超声探头装置的检测控制方法、装置及其系统

说明书

本发明涉及超声探头技术领域，具体涉及一种用于双平面超声探头装置的检测控制方法、装置及其系统。双平面超声探头装置包括设有超声探头的基体和可拆卸安装在基体上的引导架，其中，检测控制方法包括以下步骤：获取超声探头的第一配置参数；获取引导架的第二配置参数；通过第一配置参数和第二配置参数判断引导架是否与超声探头匹配；在引导架与超声探头不匹配的情况下，输出预警信息，从而指导更换引导架，直至检测控制装置不再发出预警信息，说明引导架和超声探头匹配成功，使引导架的穿刺孔与超声探头生成的引导线严格保持一致，保证穿刺的精准性，提高超声介入的有效率和穿刺手术的成功率。

技术领域

本发明涉及超声探头技术领域，具体涉及一种用于双平面超声探头装置的检测控制方法、装置及其系统。

背景技术

在超声引导下穿刺、活检属于介入性超声，是在超声仪器实时监控引导下对活体组织进行穿刺，以取得细胞及病理诊断的方法，其早在20世纪70年代就已经开始进行。目前多数医生在进行穿刺时是使用单探头进行超声引导，由于单探头超声成像在一个平面内，在扫查病灶时存在误差，导致穿刺失败。

为了提高超声引导的准确性，研发了超声探头，使用超声双探头可以在两个平面内扫查病灶，以更精准的定位病灶。在使用双超声探头的过程中，若使用引导架来配合穿刺针，以引导穿刺针的穿刺位置，将会提高穿刺介入的准确性。在这种情况下，引导架的穿刺孔必须与超声探头生成的引导线严格保持一致，否则容易出现穿刺介入失败的情况。如何保证引导架与超声探头的一致性，目前并没有公开相应的解决方案。

发明内容

因此，本发明要解决现有技术中双平面超声探头装置使用时由于引导架与超声探头不匹配导致容易出现穿刺介入失败的技术问题，从而提供一种用于双平面超声探头装置的检测控制方法、装置及其系统。

本发明第一方面，提供一种用于双平面超声探头装置的检测控制方法，所述双平面超声探头装置包括设有超声探头的基体和可拆卸安装在所述基体上的引导架，其中，所述检测控制方法包括以下步骤：

获取所述超声探头的第一配置参数；

获取所述引导架的第二配置参数；

通过所述第一配置参数和所述第二配置参数判断所述引导架是否与所述超声探头匹配；

在所述引导架与所述超声探头不匹配的情况下，输出预警信息。

可选的，所述基体上设置有第一识别芯片以及与其电连接的第一金属触点，所述第一识别芯片记录有所述第一配置参数，所述引导架上设置有第二识别芯片以及与其电连接第二金属触点，所述第二识别芯片记录有所述第二配置参数，并且在所述引导架安装到所述基体上时，所述第一金属触点与所述第二金属触点接触形成电连接，其中，

所述获取所述超声探头的第一配置参数包括：读取所述第一识别芯片中记录的第一配置参数；

所述获取所述引导架的第二配置参数包括：读取所述第二识别芯片中记录的第二配置参数。

可选的，所述通过所述第一配置参数和所述第二配置参数判断所述引导架是否与所述超声探头匹配，包括：

获取预先存储的匹配信息，所述匹配信息记录有引导架与超声探头相匹配情况下的各自的配置参数；

通过查询所述匹配信息判断所述第一配置参数与所述第二配置参数是否相匹配；

若所述第一配置参数与所述第二配置参数相匹配，则确定所述引导架与所述超声探头匹配；

若所述第一配置参数与所述第二配置参数不匹配，则确定所述引导架与所述超声探头不匹配。

可选的，在所述引导架与所述超声探头匹配的情况下，利用所述超声探头发射并返回的超声信号生成引导线并显示在显示器上，其中，所述引导架上设置有穿刺孔，所述穿刺孔的轴线与所述引导线重合。