[发明专利]设备测试方法、装置、可读介质及电子设备

权利要求书

1.一种设备测试方法，其特征在于，所述方法包括：

获取目标设备对应的设备测试参数；

获取所述设备测试参数在待测试环境中对应的目标参数值；

在当前环境中按照所述目标参数值对所述目标设备进行测试，以得到所述目标设备在所述待测试环境中的测试结果，所述当前环境与所述待测试环境为不同的环境。

2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述待测试环境包括高温高湿环境，所述高温高湿环境为环境温度大于或等于预设温度阈值且环境湿度大于或等于预设湿度阈值的测试环境；所述获取所述设备测试参数在待测试环境中对应的目标参数值包括：

在所述待测试环境为所述高温高湿环境的情况下，根据预设参数环境对应关系，获取所述高温高湿环境对应的第一目标参数值；其中，所述预设参数环境对应关系包括不同的待测试环境对应的设备测试参数的目标参数值。

3.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述在当前环境中按照所述目标参数值对所述目标设备进行测试包括：

将所述目标设备的设备测试参数的值设置为所述目标参数值；

在所述当前环境中对所述目标设备进行测试。

4.根据权利要求3所述的方法，其特征在于，所述在所述当前环境中对所述目标设备进行测试包括：

在所述当前环境中，通过所述目标设备运行目标负载程序，以便对所述目标设备进行测试；其中，所述目标负载程序为包括操作系统和目标业务系统的程序。

5.根据权利要求1至4中任一项所述的方法，其特征在于，所述目标设备为目标服务器；在所述获取所述设备测试参数在待测试环境中对应的目标参数值之前，所述方法还包括：

根据所述目标服务器的启动参数，确定所述待测试环境。

6.根据权利要求5所述的方法，其特征在于，所述目标服务器的启动参数包括所述目标服务器的主板基础输入输出系统的预设参数。

7.根据权利要求5所述的方法，其特征在于，所述目标服务器的启动参数包括所述目标服务器的主板启动芯片的预设引脚的引脚电压。

8.一种设备测试装置，其特征在于，所述装置包括：

测试参数获取模块，用于获取目标设备对应的设备测试参数；

参数值获取模块，用于获取所述设备测试参数在待测试环境中对应的目标参数值；

设备测试模块，用于在当前环境中按照所述目标参数值对所述目标设备进行测试，以得到所述目标设备在所述待测试环境中的测试结果，所述当前环境与所述待测试环境为不同的环境。

9.一种计算机可读介质，其上存储有计算机程序，其特征在于，该程序被处理装置执行时实现权利要求1至7中任一项所述方法的步骤。

10.一种电子设备，其特征在于，包括：

存储装置，其上存储有计算机程序；

处理装置，用于执行所述存储装置中的所述计算机程序，以实现权利要求1至7中任一项所述方法的步骤。