[发明专利]一种基于超声兰姆波缺陷检测的成像方法及装置有效

专利信息
申请号: 202111082997.6 申请日: 2021-09-15
公开(公告)号: CN113686959B 公开(公告)日: 2022-10-18
发明(设计)人: 阎守国;黄娟;阚婷婷;张碧星 申请(专利权)人: 中国科学院声学研究所
主分类号: G01N29/04 分类号: G01N29/04;G01N29/06
代理公司: 北京亿腾知识产权代理事务所(普通合伙) 11309 代理人: 陈霁
地址: 100190 *** 国省代码: 北京;11
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摘要:
搜索关键词: 一种 基于 超声 兰姆波 缺陷 检测 成像 方法 装置
【权利要求书】:

1.一种基于超声兰姆波缺陷检测的成像方法,其特征在于,包括:

获取待检测板状结构的缺陷回波信号,所述缺陷回波信号至少包括第一模式的兰姆波回波信号和第二模式的兰姆波回波信号,其中,所述缺陷回波信号为N个传感器中任一传感器接收到的回波信号,所述N个传感器布置于所述待检测板状结构的待检测区域,所述N为大于或等于3的正整数;

对所述第一模式的兰姆波回波信号和第二模式的兰姆波回波信号进行聚焦处理,确定聚焦回波信号;

基于所述聚焦回波信号,确定第一距离,所述第一距离表征所述缺陷回波信号对应的传感器所在位置与所述缺陷所在位置之间的实际距离;

基于所述N个缺陷回波信号对应的第一距离,确定所述待检测板状结构的缺陷检测图像。

2.根据权利要求1所述的成像方法,其特征在于,所述对所述第一模式的兰姆波回波信号和第二模式的兰姆波回波信号进行聚焦处理,确定聚焦回波信号,包括:

基于所述待检测板状结构的厚度、超声兰姆波的频散特性和预设第一距离,确定所述第一模式的兰姆波回波信号的相位变化和第二模式的兰姆波回波信号的相位变化,其中,所述超声兰姆波的频散特性包括超声兰姆波的信号角频率、所述第一模式的兰姆波的传播速度和所述第二模式的兰姆波的传播速度;

基于所述第一模式的兰姆波回波信号的相位变化和第二模式的兰姆波回波信号的相位变化,确定频散补偿系数;

基于所述频散补偿系数和所述缺陷回波信号,确定所述聚焦回波信号。

3.根据权利要求2所述的成像方法,其特征在于,所述基于所述频散补偿系数和所述缺陷回波信号,确定所述聚焦回波信号,包括:

基于所述频散补偿系数和所述缺陷回波信号,确定频散补偿信号的频域表达;

将所述频散补偿信号的频域表达转换为所述频散补偿信号的时域表达;

基于目标时间窗口和所述频散补偿信号的时域表达,确定所述聚焦回波信号,所述目标时间窗口基于声源激发信号的时间长度、所述第一模式的兰姆波的传播速度和所述第二模式的兰姆波的传播速度确定。

4.根据权利要求2或3所述的成像方法,其特征在于,所述基于所述聚焦回波信号,确定第一距离,包括:

将最大幅值的所述聚焦回波信号对应的所述预设第一距离,确定为所述第一距离。

5.根据权利要求1-4任一项所述的成像方法,其特征在于,所述基于所述N个缺陷回波信号对应的第一距离,确定所述待检测板状结构的缺陷检测图像,包括:

获取第二距离信息,所述第二距离信息包括像素坐标系中各个像素坐标与所述N个传感器中各个传感器在所述像素坐标系中的位置坐标之间的距离,所述像素坐标系基于所述待检测板状结构的表面确定;

基于所述第二距离信息和所述N个缺陷回波信号对应的第一距离,确定所述像素坐标系中各个像素坐标的像素值;

基于所述像素坐标系中各个像素坐标的像素值,生成所述待检测板状结构的缺陷检测图像。

6.一种基于超声兰姆波缺陷检测的成像装置,其特征在于,包括:

N个传感器,布置于待检测板状结构的待检测区域,用于接收所述待检测板状结构的缺陷回波信号,所述N为大于或等于3的正整数;

通信接口,用于接收所述N个传感器接收到的缺陷回波信号,所述缺陷回波信号至少包括第一模式的兰姆波回波信号和第二模式的兰姆波回波信号;

存储器,存储有计算机指令;

处理器,执行所述计算机指令,执行如下步骤:

对所述第一模式的兰姆波回波信号和第二模式的兰姆波回波信号进行聚焦处理,确定聚焦回波信号;

基于所述聚焦回波信号,确定第一距离,所述第一距离表征所述缺陷回波信号对应的传感器所在位置与所述缺陷所在位置之间的距离;

基于所述N个缺陷回波信号对应的第一距离,确定所述待检测板状结构的缺陷检测图像。

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