[发明专利]一种电路仿真优化方法、装置、计算机设备及存储介质

说明书

本发明适用于计算机技术领域，提供了一种电路仿真优化方法、装置、计算机设备及存储介质，电路仿真优化方法包括：获取设计电路的初始设计参数，并根据电路的初始设计参数计算初始S参数值；根据初始S参数值和预设的S参数阈值判断设计电路是否满足设计要求；当设计电路不满足设计要求，计算S参数对应的目标函数在初始设计参数处的导数；根据导数在初始设计参数的预设区间内搜索S参数对应的目标函数的极小值点。本方案在设计电路不满足设计要求时，通过计算S参数对应的目标函数在初始设计参数处的导数，可以根据所述导数确定目标函数的梯度方向，进而沿梯度下降方向搜索极小值点，确定优化设计，保障设计电路的仿真优化效果，且提高优化效率。

技术领域

本发明属于计算机技术领域，尤其涉及一种电路仿真优化方法、装置、计算机设备及存储介质。

背景技术

随着科技的进步以及电子产品设计生产技术水平的提高，设计师在完成电路设计后一般会需要对电路进行仿真来确定设计电路的性能，然后根据仿真结果对电路进行优化设计。在电路仿真中，一般用S参数的值来反应设计电路的性能(例如，回波损耗等)。S参数，也就是散射参数，是建立在入射微波与反射微波关系基础上的网络参数。S参数对于电路设计非常有用，因为可以利用入射波与反射波的比率来计算诸如输入阻抗、频率响应和隔离等指标。一般电路设计后的仿真优化问题可以看作是S参数对应的目标函数的极小值点的搜索问题。

目前，在电路的仿真优化中，对S参数对应的目标函数的极小值点的搜索精确定度低，对设计电路的仿真优化效果差。

发明内容

本发明实施例的目的在于提供一种电路仿真优化方法、装置、计算机设备及存储介质，旨在解决目前，在电路的仿真优化中，对S参数对应的目标函数的极小值点的搜索精确定度低，对设计电路的仿真优化效果差的技术问题。

本发明实施例是这样实现的，所述电路仿真优化方法包括：

获取设计电路的初始设计参数，并根据电路的初始设计参数计算初始S参数值；

根据所述初始S参数值和预设的S参数阈值判断所述设计电路是否满足设计要求；

当所述设计电路不满足设计要求，计算S参数对应的目标函数在所述初始设计参数处的导数；

根据所述导数在所述初始设计参数的预设区间内搜索S参数对应的目标函数的极小值点。

本发明实施例的另一目的在于提供一种电路仿真优化装置，所述电路仿真优化装置包括：

初始S参数值计算模块，用于获取设计电路的初始设计参数，并根据电路的初始设计参数计算初始S参数值；

判断模块，用于根据所述初始S参数值和预设的S参数阈值判断所述设计电路是否满足设计要求；

导数计算模块，用于当所述设计电路不满足设计要求，计算S参数对应的目标函数在所述初始设计参数处的导数；

极小值点搜索模块，用于根据所述导数在所述初始设计参数的预设区间内搜索S参数对应的目标函数的极小值点。

本发明实施例的另一目的在于提供一种计算机设备，包括存储器和处理器，所述存储器中存储有计算机程序，所述计算机程序被所述处理器执行时，使得所述处理器执行上述电路仿真优化方法的步骤。

本发明实施例的另一目的在于提供一种计算机可读存储介质，所述计算机可读存储介质上存储有计算机程序，所述计算机程序被处理器执行时，使得所述处理器执行上述电路仿真优化方法的步骤。