[发明专利]一种球形滚抛磨块全方位检测系统与方法

权利要求书

1.一种球形滚抛磨块全方位检测系统，其特征在于，包括采样盘（10）、移动盘（11）、图像采集模块、二维平移机构和采样盘固定机构，所述采样盘（10）通过采样盘固定机构固定设置在水平面，其上设置有用于放置磨块样品的通孔（16）；所述移动盘（11）水平设置在采样盘（10）正下方，并固定在二维平移机构上，所述二维平移机构用于驱动移动盘（11）沿水平方向二维移动；通孔（16）内设置的样品底部与所述移动盘（11）接触；所述图像采集模块设置在所述通孔（16）正上方。

2.根据权利要求1所述的一种球形滚抛磨块全方位检测系统，其特征在于，所述二维平移机构包括第一支座（1），第一步进电机（2），第一丝杠（3），第一滑杆（4），第一移动滑台（5），第二移动滑台（6），第三支座（7），第二支座（8），第二滑杆（12），第四支座（13），第二步进电机（14），第二丝杠（15）；

所述第一支座（1）和第二支座（8）之间设置有第一滑杆（4），所述第一移动滑台（5）套设在所述第一滑杆（4）上，所述第一丝杠（3）设置在所述第一移动滑台（5）上，所述第一步进电机（2）用于驱动第一丝杠（3）；

所述第三支座（7）和第四支座（13）固定设置在第一移动滑台（5）上，所述第三支座（7）和第四支座（13）之间设置有第二滑杆（12），所述第二移动滑台（6）套设在所述第二滑杆（12）上，所述第二步进电机（14）用于驱动第二丝杠（15）；

所述移动盘（11）与所述第二移动滑台（6）固定连接。

3.根据权利要求1所述的一种球形滚抛磨块全方位检测系统，其特征在于，所述采样盘固定机构为固定设置在地面的旋转电机（9），所述旋转电机（9）的转轴穿过所述移动盘（11）中心与采样盘（10）固定连接；

所述采样盘（10）为圆盘形，其上沿圆周方面均匀设置有多个样品通孔（16）；

所述移动盘（11）中心与旋转电机转轴对应的地方设置有L型长槽（17）。

4.根据权利要求3所述的一种球形滚抛磨块全方位检测系统，其特征在于，还包括上位机和单片机，所述单片机用于接收所述上位机发送的控制信号，控制所述二维平移机构分别沿X方向和Y方向平移，以及控制所述旋转电机（9）转动采样盘（10）切换样品，所述上位机用于控制图像采集模块对沿X方向和Y方向滚动的待测样品进行图像采集。

5.根据权利要求1所述的一种球形滚抛磨块全方位检测系统，其特征在于，所述通孔（16）为圆形，其半径大于样品半径。

6.根据权利要求1所述的一种球形滚抛磨块全方位检测系统，其特征在于，所述移动盘（11）与样品接触的一面的材质为橡胶。

7.一种球形滚抛磨块全方位检测方法，其特征在于，采用权利要求1~6任一项所述的球形滚抛磨块全方位检测系统实现，包括以下步骤：

S1、控制二维平移机构带动移动盘（11）沿X方向移动，移动盘（11）带动磨块样品沿X方向翻转一周，同时控制图像采集模块进行图像采集；

S2、控制二维平移机构带动移动盘（11）沿Y方向移动，移动盘（11）带动磨块样品沿Y方向翻转一周，同时控制图像采集模块进行图像采集。

8.根据权利要求7所述的一种球形滚抛磨块全方位检测方法，其特征在于，还包括以下步骤：

S3、控制采样盘（10）转动，使采样盘（10）上的下一个磨块样品对准图像采集模块，重复步骤S1~S2，采集下一个磨块样品的图像；

S4、重复步骤S3，直至采样盘（10）上的所有磨块样品图像采集完成。