[发明专利]恒定应力定时截尾加速寿命试验寿命评估方法及系统

权利要求书

1.一种恒定应力定时截尾加速寿命试验寿命评估方法，其特征在于，包括：

根据产品常见失效模式与机理，分析薄弱环节，获取激活能；

利用激活能计算加速应力下产品相对于正常应力的加速因子，获得等效试验时间；

建立无失效数据统计模型，根据无失效数据总体分布及其参数的先验信息，利用Bayes方法对定时截尾时间处的失效概率进行估计；

将无失效数据在定时截尾时间处失效概率的估计值，利用最小二乘法进行曲线拟合，验证其寿命分布，并计算寿命参数；

根据寿命参数获取不同可靠度的可靠寿命及平均寿命估计值；

根据对数正态分布分布函数和可靠度函数特点，构建可靠寿命置信区间下限，根据可靠寿命置信区间下限完成寿命评估。

2.根据权利要求1所述的一种恒定应力定时截尾加速寿命试验寿命评估方法，其特征在于，电子元器件不同失效机理对应的激活能如下表所示：

失效机理	激活能
栅氧化层缺陷	0.3-0.5
体硅缺陷	0.3-0.5
硅结缺陷	0.6-0.8
金属化缺陷	0.5
金铝间化合物生长	1.05
电迁移	0.6-0.9
金属腐蚀	0.45-0.7
装配缺陷	0.5-0.7
键合相关	1.0
晶圆制造，化学污染	0.8-1.1
晶圆制造，硅/晶体污染	0.5-0.6
介电击穿，区域大于0.04um厚	0.3
介电击穿，区域小于等于0.04um厚	0.7
粘合剂粘性：粘接-非粘接	0.65-1.0

按照上表的对应关系，根据产品常见失效模式与机理，分析薄弱环节，获取激活能。