[发明专利]衰减器布置

说明书

本发明提供一种至少包括第一衰减路径的衰减器布置，所述衰减器布置被配置成耦合于信号处理链SPC和测量设备之间；所述SPC包括第一SPC端和第二SPC端，所述SPC被配置成在所述SPC端之间传送的信号上施加增益和相位改变中的一个或两个；所述测量设备被配置成通过耦合到所述SPC端并且从所述SPC端接收信号来测量SPC所施加的所述增益和所述相位改变中的一个或两个；其中所述第一SPC端和所述第二SPC端中的一个通过所述第一衰减路径耦合到所述测量设备；且其中所述衰减器布置的所述至少第一衰减路径被配置成选择性地实现对发到所述测量设备的所述信号的衰减以使来自所述SPC端的所述信号的信号功率更平等。

技术领域

本公开涉及用于选择性地衰减信号的衰减器布置。本公开还涉及所述衰减器布置以及所述测量设备和所述收发器。衰减器布置可用于测试收发器或其它RF信号处理电路的领域。具体来说，本公开涉及用于选择性地衰减从收发器输出的信号以使得所述信号的被衰减版本可提供给所述测量设备以用于确定收发器引入的相移和/或增益的衰减器布置。

背景技术

在RF信号处理中，信号处理链可用作以毫米波频率工作的接收器(RX)和/或发射器(TX)。信号处理链可被配置成改变信号的振幅并且因而可被视为包括一个或多个放大器。此外，信号处理链可以被配置成用于改变信号的相位并且因而可被视为包括“相位旋转器”、“移相器”或“延迟电路”中的一个或多个。信号处理链可形成为通常已知为射频集成电路(RFIC)的集成电路的部分。在例如10-300GHz的毫米波频率下，例如在5G通信产品中，用于测试RX和TX布置的成本可能较高。测量设备可设计为RFIC的测试信号处理链的部分。

可通过使用例如增益/相位检测器的测量设备来确定信号处理链所施加的增益和/或相变。然而，难以确保所使用的增益/相位检测器比正在使用所述增益/相位检测器所测量的信号处理链更准确，且成本很高。

发明内容

根据本公开的第一方面，提供一种至少包括第一衰减路径的衰减器布置，所述衰减器布置被配置成耦合于信号处理链和测量设备之间；

所述信号处理链SPC包括第一SPC端和第二SPC端，所述信号处理链被配置成在所述第一SPC端和第二SPC端之间传送的信号上施加增益和相位改变中的一个或两个；

所述测量设备被配置成通过耦合到所述第一SPC端和所述第二SPC端并且从所述第一SPC端和所述第二SPC端接收信号来测量所述信号处理链所施加的所述增益和所述相位改变中的一个或两个；

其中所述第一SPC端和所述第二SPC端中的一个通过所述第一衰减路径耦合到所述测量设备；且

其中所述衰减器布置的所述第一衰减路径被配置成选择性地实现对从所述第一SPC端和所述第二SPC端中的所述一个SPC端到所述测量设备的所述信号的衰减，所述衰减器布置被配置成提供所述选择性衰减以使来自所述第一SPC端和所述第二SPC端中的所述一个SPC端的所述信号的信号功率与来自所述第一SPC端和所述第二SPC端中的另一个SPC端的所述信号的信号功率更平等。

在一个或多个实施例中，所述衰减器布置包括第二衰减路径，其中所述第一衰减路径实现对从所述第一SPC端到所述测量设备的所述信号的选择性衰减，且所述第二衰减路径实现对从所述第二SPC端到所述测量设备的所述信号的选择性衰减，其中所述第一衰减路径和所述第二衰减路径中的每一个衰减路径所提供的所述选择性衰减基于来自所述第一SPC端和第二SPC端的所述信号之间的相对信号功率，且所述选择性衰减被配置成使来自第一SPC端的所述信号的所述信号功率与来自所述第二SPC端的所述信号的所述信号功率更平等。

在一个或多个实施例中，所述第一衰减路径和第二衰减路径中的一个或两个包括：

差分输入(Vin)，其包括用于从所述第一SPC端和所述第二SPC端中的所述一个SPC端接收所述信号的第一输入端和第二输入端，所述信号包括差分输入信号；