[发明专利]存储器装置错误校验和清除模式以及错误透明度在审

专利信息
申请号: 202111091173.5 申请日: 2016-08-04
公开(公告)号: CN113808658A 公开(公告)日: 2021-12-17
发明(设计)人: J.B.哈尔伯特;K.S.拜因斯 申请(专利权)人: 英特尔公司
主分类号: G11C29/42 分类号: G11C29/42
代理公司: 中国专利代理(香港)有限公司 72001 代理人: 李啸
地址: 美国加利*** 国省代码: 暂无信息
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摘要:
搜索关键词: 存储器 装置 错误 校验 清除 模式 以及 透明度
【权利要求书】:

1.一种动态随机存取存储器(DRAM)装置,包括:

包含多个行的存储器阵列;以及

错误校验和清除(ECS)逻辑,其包括错误校验和纠正(ECC)逻辑用来执行ECS模式,在所述ECS模式中所述DRAM装置要从所述存储器阵列顺序读取数据,利用所述ECC逻辑纠正所述存储器阵列的行中的单个位错误,并且将纠正的数据写回到所述存储器阵列;

其中,所述ECS逻辑包括地址生成逻辑用来内部生成和管理用于所述ECS模式的地址信息,以便从所述存储器阵列顺序读取数据。

2.如权利要求1所述的DRAM装置,其中所述地址生成逻辑要对地址进行计数直到所述地址信息的滚转。

3.如权利要求2所述的DRAM装置,其中所述地址信息的所述滚转包括堆地址滚转。

4.如权利要求2所述的DRAM装置,其中所述地址信息的所述滚转包括存储器阵列地址滚转。

5.如权利要求4所述的DRAM装置,进一步包括:

寄存器,用来指示所述ECS模式中检测的具有至少一个码字错误的行的数量。

6.如权利要求5所述的DRAM装置,其中响应于所述存储器阵列地址滚转,所述ECS逻辑要重置所述寄存器。

7.如权利要求1所述的DRAM装置,进一步包括:

输入/输出(I/O)接口,用来接收设置模式寄存器的位以进入所述ECS模式的命令。

8.如权利要求1所述的DRAM装置,其中所述DRAM装置包含与双数据速率(DDR)标准兼容的同步动态随机存取存储器(SDRAM)装置。

9.一种系统,包括:

存储器控制器;以及

耦合到所述存储器控制器的动态随机存取存储器(DRAM)装置,所述DRAM装置包括:

包含多个行的存储器阵列;以及

错误校验和清除(ECS)逻辑,其包括错误校验和纠正(ECC)逻辑用来执行ECS模式,在所述ECS模式中所述DRAM装置要从所述存储器阵列顺序读取数据,利用所述ECC逻辑纠正所述存储器阵列的行中的单个位错误,并且将纠正的数据写回到所述存储器阵列;

其中,所述ECS逻辑包括地址生成逻辑用来内部生成和管理用于所述ECS模式的地址信息,以便从所述存储器阵列顺序读取数据。

10.如权利要求9所述的系统,其中所述地址生成逻辑要对地址进行计数直到所述地址信息的滚转。

11.如权利要求10所述的系统,其中所述地址信息的所述滚转包括堆地址滚转。

12.如权利要求10所述的系统,其中所述地址信息的所述滚转包括存储器阵列地址滚转。

13.如权利要求12所述的系统,所述DRAM装置进一步包括:

寄存器,用来指示所述ECS模式中检测的具有至少一个码字错误的行的数量。

14.如权利要求13所述的系统,其中响应于所述存储器阵列地址滚转,所述ECS逻辑要重置所述寄存器。

15.如权利要求9所述的系统,进一步包括:

输入/输出(I/O)接口,用来接收设置模式寄存器的位以进入所述ECS模式的命令。

16.如权利要求9所述的系统,其中所述DRAM装置包含与双数据速率(DDR)标准兼容的同步动态随机存取存储器(SDRAM)装置。

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