[发明专利]一种高纯铝硅靶材及其制备方法有效

专利信息
申请号: 202111091818.5 申请日: 2021-09-17
公开(公告)号: CN113817994B 公开(公告)日: 2023-04-07
发明(设计)人: 姚力军;潘杰;边逸军;王学泽;章丽娜;罗明浩 申请(专利权)人: 宁波江丰电子材料股份有限公司
主分类号: C23C14/34 分类号: C23C14/34;C22F1/04;B23P15/00
代理公司: 北京远智汇知识产权代理有限公司 11659 代理人: 王岩
地址: 315400 浙江省宁波市*** 国省代码: 浙江;33
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摘要:
搜索关键词: 一种 高纯 铝硅靶材 及其 制备 方法
【权利要求书】:

1.一种高纯铝硅靶材的制备方法,其特征在于,所述制备方法由以下步骤组成:

将高纯铝硅靶坯依次进行锻伸、水冷、一次热处理、水冷、静压、二次热处理、水冷、一次压延、二次压延、三次热处理以及水冷,得到高纯铝硅靶材;

所述锻伸后高纯铝硅靶坯的直径为高纯铝硅靶初始直径的70-80%;所述锻伸后高纯铝硅靶坯的长度为高纯铝硅靶初始长度的180-210%;

所述静压所得高铝硅靶坯的直径为高铝硅靶坯初始直径的105-120%;所述静压所得高铝硅靶坯的长度为高铝硅靶坯初始长度的70-80%;

所述一次压延和所述二次压延的温度分别为20-40℃;

所述一次压延后高铝硅靶坯的直径为高铝硅靶坯初始直径的180-200%;所述一次压延后高铝硅靶坯的长度为高铝硅靶坯初始长度的23-28%;

所述二次压延后高铝硅靶坯的直径为高铝硅靶坯初始直径的205-220%;所述二次压延后高铝硅靶坯的长度为高铝硅靶坯初始长度的20-25%;

所述一次热处理的温度为480-500℃,时间为10-20min;

所述二次热处理的温度为440-460℃,时间为10-20min;

所述三次热处理的温度为380-400℃,时间为10-20min。

2.根据权利要求1所述的制备方法,其特征在于,所述高纯铝硅靶坯的纯度为5N-5N5。

3.根据权利要求1所述的制备方法,其特征在于,所述锻伸的温度为20-40℃。

4.根据权利要求1所述的制备方法,其特征在于,所述一次热处理后的水冷与静压之间还包括切断。

5.根据权利要求4所述的制备方法,其特征在于,对高铝硅靶坯的两端分别进行切断。

6.根据权利要求5所述的制备方法,其特征在于,每端切断的长度独立地为高纯铝硅靶坯初始长度的10-15%。

7.根据权利要求1所述的制备方法,其特征在于,所述静压的温度为20-40℃。

8.根据权利要求1所述的制备方法,其特征在于,所述高纯铝硅靶材依次进行圆周锯、校平和车削。

9.根据权利要求8所述的制备方法,其特征在于,所述校平后高纯铝硅靶材的平面度≤1mm。

10.根据权利要求8所述的制备方法,其特征在于,所述车削采用金刚石刀片进行。

11.根据权利要求8所述的制备方法,其特征在于,所述车削后高纯铝硅靶材的粗糙度≤0.8μm。

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