[发明专利]离子交换化学强化含锂玻璃中拐点应力测量的改进方法

权利要求书

1.一种用于测量具有翘曲表面的化学强化含Li玻璃试样中的拐点应力的棱镜耦合系统，包括：

支承台，其配置成支承所述化学强化含Li玻璃试样；

耦合棱镜；

光探测器系统；以及

控制器，其中，所述控制器配置成通过以下方式运行该棱镜耦合系统：

采集所述化学强化含Li玻璃试样的TE模谱和TM模谱；

对于所述TE模谱和TM模谱中的至少一种，测量全内反射TIR区段与部分内反射PR区段之间TIR-PR过渡处光强度的TIR-PR斜率；

测量所述TE模谱和TM模谱中的至少一种的TIR-PR过渡的TIR-PR宽度；

将TIR-PR斜率与TIR-PR斜率阈值进行比较，将TIR-PR宽度与TIR-PR宽度阈值进行比较，其中，所述TIR-PR斜率阈值和所述TIR-PR宽度阈值由具有平坦表面的参比玻璃试样定义；以及

如果TIR-PR斜率大于所述TIR-PR斜率阈值且TIR-PR宽度小于所述TIR-PR宽度阈值，则使用所述TE模谱和所述TM模谱来测定所述拐点应力。

2.一种用于测量具有表面和主体的化学强化含Li玻璃试样中的拐点应力的棱镜耦合系统，所述具有表面和主体的化学强化含Li玻璃试样包含具有拐点的应力曲线且定义波导，所述波导以导波和漏模的状态承载光线，该棱镜耦合系统包括：

支承台，其配置成支承所述化学强化含Li玻璃试样；

耦合棱镜；

光探测器系统；以及

控制器，其中，所述控制器配置成通过以下方式运行该棱镜耦合系统：

采集所述导波和所述漏模的TE模谱和TM模谱，其中，各模谱具有全内反射TIR区段和部分内反射PR区段，在所述全内反射TIR区段与所述部分内反射PR区段之间存在具有TIR-PR过渡位置的TIR-PR过渡；

测定所述TE模谱和所述TM模谱的各个TIR-PR过渡位置；

由所述TE模谱和所述TM模谱测定所述TE模谱和所述TM模谱中所述漏模相对于所述TIR-PR过渡位置的位置；

由所述的漏模位置测定所述TM模谱和所述TE模谱中的每一种中的所述TIR-PR位置的偏移量；

向所述TIR-PR过渡位置添加所述偏移量，以取得所述TM模谱和所述TE模谱中的每一种的修正后的TIR-PR过渡位置；

使用所述TM模谱和所述TE模谱的所述修正后的TIR-PR过渡位置来测定所述拐点应力。

3.一种用于测量具有表面和主体的化学强化含Li玻璃试样中的拐点应力的棱镜耦合系统，所述具有表面和主体的化学强化含Li玻璃试样包含具有拐点的应力曲线且定义波导，所述波导以导模的状态承载光线，该棱镜耦合系统包括：

支承台，其配置成支承所述化学强化含Li玻璃试样；

耦合棱镜；

光探测器系统；以及

控制器，其中，所述控制器配置成通过以下方式运行该棱镜耦合系统：

采集TE模谱和TM模谱，所述TE模谱和所述TM模谱分别包含TE条纹和TM条纹；

对于所述TE模谱和所述TM模谱中的每一种，测量对于波导所承载的光线的全内反射区段与部分内反射区段TIR-PR之间过渡的斜率SLP；以及

将所述斜率与陡峭度阈值STH进行比较，使用所述斜率来测定所述TIR-PR过渡的位置，如果所述斜率大于陡峭度阈值STH，使用所述TIR-PR过渡的位置来测定所述拐点应力。

4.如权利要求1-3中任一项所述的棱镜耦合系统，其特征在于，对所述拐点应力CSk的测定包括使用关系式CSk＝[n_临界^TE-n_临界^TM]/SOC，其中，n_临界^TE和n_临界^TM分别为所述TE模谱和所述TM模谱在所述TIR-PR过渡处的临界角有效折射率值，SOC为应力光学系数。