[发明专利]显示面板及其修复方法有效
申请号: | 202111095063.6 | 申请日: | 2021-09-17 |
公开(公告)号: | CN113871434B | 公开(公告)日: | 2023-04-18 |
发明(设计)人: | 薛炎 | 申请(专利权)人: | 深圳市华星光电半导体显示技术有限公司 |
主分类号: | H10K59/122 | 分类号: | H10K59/122;H01L23/544;H10K59/123;H10K59/131;H01L27/12 |
代理公司: | 深圳紫藤知识产权代理有限公司 44570 | 代理人: | 黄舒悦 |
地址: | 518132 广东省深*** | 国省代码: | 广东;44 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | |||
搜索关键词: | 显示 面板 及其 修复 方法 | ||
本申请公开了一种显示面板及其修复方法,所述显示面板包括基板和设置在基板上的GOA电路和修复线路,GOA电路包括沿第一方向排列的多个GOA单元,每一GOA单元包括间隔设置且沿第二方向排列的多个薄膜晶体管;修复线路包括第一修复线和第二修复线,第一修复线在基板上的正投影位于每一GOA单元的相邻两个薄膜晶体管在基板上的正投影之间,第一修复线沿第一方向延伸设置,在相邻两个薄膜晶体管之间,第一修复线的数量为至少两条;第二修复线在基板上的正投影位于相邻两个GOA单元在基板上的正投影之间,第二修复线沿第二方向延伸设置,第二修复线与第一修复线相交。本申请解决了现有技术中GOA电路的金属断线的修复问题。
技术领域
本申请涉及显示技术领域,具体涉及一种显示面板及其修复方法。
背景技术
有机发光二极管(Organic Light-Emitting Diode,OLED)作为新一代显示技术,相较于传统的液晶显示器,具有更高的对比度、更快的反应速度和更广的视角,广泛应用于智能手机及电视领域。
为了满足窄边框显示产品的需求,目前,阵列基板行驱动(Gate Driver OnArray,GOA)技术普遍应用于OLED显示面板中。然而,GOA电路中易出现金属断线问题,导致级传失效,降低了GOA电路的驱动性能。
发明内容
本申请实施例提供一种显示面板及其修复方法,以解决现有技术中GOA电路中的金属断线问题。
本申请实施例提供一种显示面板,其包括:
基板;
GOA电路,设置在所述基板上,所述GOA电路包括沿第一方向排列的多个GOA单元,每一所述GOA单元包括间隔设置且沿第二方向排列的多个薄膜晶体管;以及
修复线路,设置在所述GOA电路上,所述修复线路包括第一修复线和第二修复线,所述第一修复线在所述基板上的正投影位于每一所述GOA单元的相邻两个所述薄膜晶体管在所述基板上的正投影之间,所述第一修复线沿所述第一方向延伸设置,在相邻两个所述薄膜晶体管之间,所述第一修复线的数量为至少两条;所述第二修复线在所述基板上的正投影位于相邻两个所述GOA单元在所述基板上的正投影之间,所述第二修复线沿所述第二方向延伸设置,所述第二修复线与所述第一修复线相交。
可选的,在本申请的一些实施例中,所述GOA电路还包括:
连接走线,所述连接走线连接于每一所述GOA单元的相邻两个所述薄膜晶体管之间,所述连接走线在所述基板上的正投影与所述第一修复线在所述基板上的正投影相交;
级传走线,所述级传走线连接于相邻两个所述GOA单元之间,所述级传走线在所述基板上的正投影与所述第一修复线在所述基板上的正投影相交,在所述第一方向上,所述级传走线在所述基板上的正投影位于所述第二修复线在所述基板上的正投影的外侧;以及
时钟信号走线,所述时钟信号走线设置在相邻两个所述GOA单元之间,一所述时钟信号走线对应电连接于一所述GOA单元,所述时钟信号走线在所述基板上的正投影与所述第一修复线在所述基板上的正投影相交,在所述第一方向上,所述时钟信号走线在所述基板上的正投影位于所述第二修复线在所述基板上的正投影的外侧。
可选的,在本申请的一些实施例中,在所述第一方向上,所述第二修复线在所述基板上的正投影位于所述级传走线和所述时钟信号走线在所述基板上的正投影之间。
可选的,在本申请的一些实施例中,所述显示面板还包括阳极,所述第一修复线和所述第二修复线均与所述阳极同层且绝缘设置。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于深圳市华星光电半导体显示技术有限公司,未经深圳市华星光电半导体显示技术有限公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/202111095063.6/2.html,转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇:全景视频插帧方法、装置及计算机可读存储介质
- 下一篇:超参数的确定方法及装置