[发明专利]一种平场校正参数的获取方法及装置在审
| 申请号： | 202111097720.0 | 申请日： | 2021-09-18 |
| 公开（公告）号： | CN113808046A | 公开（公告）日： | 2021-12-17 |
| 发明（设计）人： | 郭慧;张见;戚涛;姚毅;杨艺 | 申请（专利权）人： | 凌云光技术股份有限公司;北京凌云光子技术有限公司 |
| 主分类号： | G06T5/00 | 分类号： | G06T5/00;G06T7/80 |
| 代理公司： | 北京弘权知识产权代理有限公司 11363 | 代理人： | 逯长明;许伟群 |
| 地址： | 100094 北京市海淀*** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | |||
| 搜索关键词： | 一种 校正 参数 获取 方法 装置 | ||
1.一种平场校正参数的获取方法，其特征在于，包括以下步骤：
获取待校正图像的暗场图像，其中，所述暗场图像由至少一个暗场像素块组成，每一个所述暗场像素块内包含至少一个暗场像素点；
计算并存储所述暗场图像的暗场行均值向量和暗场列均值向量；
调用存储的所述暗场行均值向量，计算得到暗场行均值矩阵；
调用存储的所述暗场列均值向量，计算得到暗场列均值矩阵；
将所述暗场行均值矩阵和所述暗场列均值矩阵相加，得到所述暗场图像中每一个暗场像素点的FPN参数；
获取待校正图像的亮场图像中每一个亮场像素点的PRNU参数；
将所述FPN参数和所述PRNU参数输出为所述待校正图像中每一个待校正像素点的平场校正参数。
2.根据权利要求1所述的一种平场校正参数的获取方法，其特征在于，
所述FPN参数包括FPN行参数和FPN列参数；
其中，所述FPN行参数通过计算所述暗场行均值向量得到；
所述FPN列参数通过计算所述暗场列均值向量得到。
3.根据权利要求2所述的一种平场校正参数的获取方法，其特征在于，
所述FPN行参数的计算公式为：
其中，FPN_R表示FPN行参数，表示暗场行均值向量；
所述FPN列参数的计算公式为：
其中，FPN_C表示FPN列参数，表示暗场列均值向量。
4.根据权利要求1-3任意一项所述的一种平场校正参数的获取方法，其特征在于，
亮场像素点的PRNU参数均为1。
5.一种平场校正参数的获取方法，其特征在于，包括以下步骤：
获取待校正图像的暗场图像中每一个暗场像素点的FPN参数；
获取待校正图像的亮场图像，其中，所述亮场图像由若干亮场像素块组成，每一个所述亮场像素块内包含有若干亮场像素点；
计算并存储所述亮场图像的亮场行均值向量和亮场列均值向量；
调用存储的所述亮场行均值向量，计算得到亮场行均值矩阵；
调用存储的所述亮场列均值向量，计算得到亮场列均值矩阵；
将所述亮场行均值矩阵和所述亮场列均值矩阵相乘，得到所述亮场图像中每一个亮场像素点的PRNU参数；
将所述FPN参数和所述PRNU参数输出为所述待校正图像中每一个待校正像素点的平场校正参数。
6.根据权利要求5所述的一种平场校正参数的获取方法，其特征在于，
所述PRNU参数包括PRNU行参数和PRNU列参数；
其中，所述PRNU行参数通过目标值与所述亮场行均值向量和暗场行均值向量的差值相除得到；
所述PRNU列参数通过目标值与所述亮场列均值向量和暗场列均值向量的差值相除得到。
7.根据权利要求6所述的一种平场校正参数的获取方法，其特征在于，
所述PRNU行参数的计算公式为：
其中，PRNU_R表示PRNU行参数，表示亮场行均值向量，FPN_R表示FPN行参数，Target表示目标值；
所述PRNU列参数的计算公式为：
其中，PRNU_C表示PRNU列参数，表示亮场列均值向量，FPN_C表示FPN列参数，Target表示目标值。
8.根据权利要求5-7任意一项所述的一种平场校正参数的获取方法，其特征在于，
暗场像素点的FPN参数均为0。
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