[发明专利]电磁继电器寿命评估方法

说明书

本申请提供一种电磁继电器寿命评估方法，该方法包括：根据触点电流和触点电压计算得到待测继电器的触点接触电阻的阻值；确定待测继电器失效并记录待测继电器的失效数据；根据最优拟合原则和待测继电器的失效数据，分别预估低温组和高温组的寿命分布曲线；选取80％的可靠度，基于寿命分布曲线获取低温组的中位寿命和高温组的中位寿命；根据低温组的中位寿命、低温组的温度、高温组的中位寿命、高温组的温度代入阿伦尼乌斯模型，求解阿伦尼乌斯模型的未知参数；将电磁继电器的使用环境温度代入已求解的阿伦尼乌斯模型，计算得到待测继电器的寿命评估结果等步骤。本申请能够对电磁继电器的寿命进行评估，并提高评估结果准确性。

技术领域

本申请涉及电子器件测试领域，具体而言，涉及一种电磁继电器寿命评估方法。

背景技术

电磁继电器作为一种二次元件，被广泛应用在电力系统中，继电器的固有可靠性和使用可靠性直接会影响到电力系统的整体可靠性。电磁继电器作为一种损耗性的元器件，其稳定性会随着使用时间的延长而逐步降低。因此有必要对电磁继电器的寿命进行评估，以制定相应的维修策略。

当前的继电器寿命评估主要为电耐久性和机械耐久性，该方法脱离于继电器的实际应用环境，评价结果与实际结果有一定的偏差，导致其评估准确度低。

发明内容

本申请实施例的目的在于提供一种电磁继电器寿命评估方法，用以对电磁继电器的寿命进行评估，并提高评估结果准确性。

为此，本申请公开一种电磁继电器寿命评估方法，所述方法包括：

根据温度条件的不同将所述待测继电器的高温加速寿命试验分为低温组和高温组，其中，所述低温组选取的温度为所述待测继电器在使用环境中的最高温度，所述高温组为所述待测继电器的上限工作温度+10℃；

将所述待测继电器的输入端与时间继电器电性连接，所述待测继电器的输出端与阻性负载电性连接；

将所述待测继电器放入高温箱中，所述高温箱的温度设置为预设温度；

按照试验周期向所述待测继电器间歇性供电，并监测所述待测继电器的线圈电流、线圈电压、触点电流、触点电压；

根据所述线圈电流和所述线圈电压计算得到所述待测继电器的线圈电阻的阻值；

根据所述触点电流和所述触点电压计算得到所述待测继电器的触点接触电阻的阻值；

当所述待测继电器的线圈电阻的阻值大于第一预设阈值时，或待测继电器的触点接触电阻的阻值大于第二预设阈值时，确定所述待测继电器失效并记录所述待测继电器的失效数据；

根据最优拟合原则和所述待测继电器的失效数据，分别预估所述低温组和所述高温组的寿命分布曲线；

基于所述寿命分布曲线获取所述低温组的中位寿命和高温组的中位寿命；

根据所述低温组的中位寿命、所述低温组的温度、所述高温组的中位寿命、所述高温组的温度代入阿伦尼乌斯模型，求解阿伦尼乌斯模型的未知参数。

根据所述待测继电器的使用环境温度代入已求解的阿伦尼乌斯模型，计算得到所述待测继电器的寿命评估结果。

在本申请实施例中，作为一种可选的实施方式，所述基于所述寿命分布曲线获取所述低温组的中位寿命和高温组的中位寿命，包括：

根据所述低温组的寿命分布曲线，选取80%的可靠度，确定所述低温组的中位寿命；

根据所述高温组的寿命分布曲线，选取80%的可靠度，确定所述高温组的中位寿命。

在本申请实施例中，作为一种可选的实施方式，所述将所述第一中位寿命数值和所述第二中位寿命数值、所述低温组的温度、所述高温组的温度代入所述阿伦尼乌斯模型中，计算得到所述待测继电器的寿命评估结果，包括：