[发明专利]一种基于ADS-B的相控阵二次雷达OBA表自动生成方法

说明书

本发明提供了一种基于ADS‑B的相控阵二次雷达OBA表自动生成方法，包括：ADS‑B目标自相关、SSR目标自相关、SSR目标与ADS‑B目标匹配、目标匹配的特征值处理、OBA表应用值计算5个过程来获取OBA表，该方法无需测试场地的配合，OBA表生成过程中无需人工参与，仅需增加ADS‑B功能进行配合，成本低廉。该方法能够在设备应用环境中不断学习生成实际对空的OBA表，得到的OBA表的方位准确度较高，能够满足绝大多数应用场景对方位准确度的要求。

技术领域

本发明涉及二次雷达领域，特别涉及一种基于ADS-B的相控阵二次雷达OBA表自动生成方法。

背景技术

随着相控阵技术的快速发展和制造工艺的提升，相控阵二次雷达部署在更多的应用平台。相控阵二次雷达相比于机械扫描二次雷达，具备扫描灵活，体积较小，便于隐蔽，可靠性较高的优点。但很多相控阵二次雷达平台由于成本限制，波束宽度很宽，通常达到10度以上，并且由于不同波位的硬件差异引入了很多误差因素，从而导致方位误差较大。因此，在实际工程应用中，如何减小方位误差，提高方位准确度对项目开展具备重要意义。

目前在相控阵二次雷达上，我们常用单脉冲的处理方式，通过偏离角(OBA—Off-boresight Angle)进行方位查表计算。为了减小方位误差，我们需要提高OBA表的准确度。OBA表中保存了目标在波束中的方位偏移值，该值需要通过波位信息、和通道采样幅度值、差通道采样幅度值、相位符号位、目标探测距离等信息进行关联。

当前相控阵二次雷达的OBA表生成方法主要有两种，一是采用根据天线仿真数据得到的理论OBA表；二是通过微波暗室测试生成OBA表。

第一种方法得到的理论OBA表，存在一个很大的缺点，就是基于现有工艺和成本的限制，实际设备硬件上引入了很多误差，导致理论OBA表与实际OBA表差距较大，从而会导致方位准确度较低，往往达不到很多设备平台的要求。

第二种方法得到的测试OBA表，方位准确度较高，但存在三个缺点，一是对测试场地要求很高，通常需要在达到一定要求的微波暗室中进行测试。二是测试工作量很大，因为每个波位均存在差异，且同一波位不同距离段上也存在差异。三是成本很高，因为微波暗室使用成本很高，并且每一套设备均需要进行测试。

发明内容

针对现有技术中存在的问题，提供了一种基于ADS-B的相控阵二次雷达OBA表自动生成方法，该方法无需测试场地的配合，OBA表生成过程中无需人工参与，仅需增加ADS-B功能进行配合，成本低廉。该方法能够在设备应用环境中不断学习生成实际对空的OBA表，得到的OBA表的方位准确度较高，能够满足绝大多数应用场景对方位准确度的要求。

本发明采用的技术方案如下：一种基于ADS-B的相控阵二次雷达OBA表自动生成方法，包括：

ADS-B目标自相关：接收并解析ADS-B目标信息，存储至ADS-B目标存储区；

SSR目标自相关：接收并解析SSR目标信息，存储至SSR目标存储区；

SSR目标与ADS-B目标匹配：根据SSR目标信息和ADS-B目标信息进行SSR目标与ADS-B目标进行匹配，若匹配成功，则在目标相应的存储区中建立或更新匹配信息；若匹配失败，则清除对应的匹配信息；

目标匹配的特征值处理：提取匹配信息满足条件的目标，并将目标的波位值、距离所属段、和减差幅度、相位符号位作为一组特征值用于索引，同时计算每组特征值对应ADS-B目标方位与SSR目标所在波位的参考方位的差值，作为该组特征值对应的查表值，即一个OBA记录值；

OBA表应用值计算：在同一组特征值对应的OBA记录值个数达到门限次数时，去除偏差较大的OBA记录值，对保留的OBA记录值计算平均值作为当组特征值下的OBA表应用值。

进一步的，所述ADS-B目标自相关的具体过程为：