[发明专利]芯片测试电路、测试方法及测试装置

权利要求书

1.一种芯片测试电路，用于给被测芯片提供测试电压，其特征在于，包括：

第一数模转换器，用于获取第一参考电压，并通过数码值调节第一输出电压；

第二数模转换器，用于获取第二参考电压，并通过数码值调节第二输出电压；

电压合成模块，用于将所述第一输出电压和第二输出电压相加或相减，并输出测试电压；

计算模块，用于根据目标测试电压计算目标数码值，并根据目标数码值计算对应的所述第一数模转换器的数码值和第二数模转换器的数码值，使所述芯片测试电路的等效数码值与目标数码值相匹配；

配置模块，用于以计算好的所述第一数模转换器的数码值和第二数模转换器的数码值配置所述第一数模转换器和第二数模转换器；

参考电压源，用于提供参考电压；

分压电路，用于对参考电压源的参考电压分压，以生成所述第一参考电压和第二参考电压；

所述分压电路包括：第一分压模块和第二分压模块，所述第一分压模块和第二分压模块用于对所述参考电压分压，所述第一分压模块的分压点的电压为第一参考电压，所述第二分压模块的分压点的电压为第二参考电压，所述第二分压模块的分压值大于所述第一分压模块的分压值；所述第一分压模块为第一分压电阻，所述第二分压模块为第二分压电阻，所述参考电压源、第一分压电阻和第二分压电阻依次串联后接地；

所述第一数模转换器和第二数模转换器的数码位宽相同，第一分压电阻R1和第二分压电阻R2的关系如下：

R2/R1＝β＝V_LSB1/LSBF

其中，β为所述芯片测试电路相对于单独使用所述第一数模转换器而实现的分辨率提升倍数，LSBF为所述芯片测试电路的最小分辨率；

当所述电压合成模块为电压加法器时，使用方程(1)求解所述第一数模转换器的数码值和第二数模转换器的数码值，当所述电压合成模块为电压减法器时，使用方程(2)求解所述第一数模转换器的数码值和第二数模转换器的数码值：

codeF＝β*(DAC_code1+DAC_code2)-DAC_code2 (1)

codeF＝β*(DAC_code1-DAC_code2)+DAC_code2 (2)

其中，codeF是目标数码值；β＝R2/R1，R1和R2分别为第一分压电阻和第二分压电阻的阻值；所述芯片测试电路的最小分辨率为V_LSB1/β，V_LSB1为第一输出电压的分辨率；DAC_code1是所述第一数模转换器的数码值，DAC_code2是所述第二数模转换器的数码值。