[发明专利]待检验点的位置定位方法及定位装置

权利要求书

1.一种待检验点的位置定位方法，应用于定位装置，其特征在于，所述方法包括：

获取待检验点的位置参数以及电子围栏的各顶点的位置参数；

根据所述位置参数，判断待检验点是否位于电子围栏的特殊位置，所述特殊位置至少包括所述电子围栏的顶点以及所述电子围栏的边上；

若所述待检验点不在所述电子围栏的特殊位置，则通过射线法判断所述待检验点是否位于所述电子围栏的内部；

确定所述待检验点及电子围栏之间的相对位置。

2.如权利要求1所述的待检验点的位置定位方法，其特征在于，所述判断待检验点是否位于电子围栏的特殊位置，包括：

将所述待检验点的位置参数与所述电子围栏的各顶点的位置参数进行匹配；

若匹配，则所述待检验点位于所述电子围栏的顶点。

3.如权利要求2所述的待检验点的位置定位方法，其特征在于，所述将所述待检验点的位置参数与所述电子围栏的各顶点的位置参数进行匹配，包括：

设置指针指向所述电子围栏的初始顶点，将所述初始顶点作为当前顶点；

判断当前顶点的位置参数与所述待检验点的位置参数是否匹配；

若是，则所述待检验点位于所述电子围栏的顶点；

若否，则所述指针将所述电子围栏的下一顶点作为当前顶点，并与所述待检验点进行匹配；

若所述指针指向的下一顶点为当前顶点，则所述待检验点不位于所述电子围栏的顶点。

4.如权利要求1所述的待检验点的位置定位方法，其特征在于，所述判断待检验点是否位于电子围栏的特殊位置，包括：

基于向量叉积判断所述待检验点的位置参数是否位于电子围栏的一边上；或者

基于待检验点与不同顶点之间的边长关系判断所述待检验点的位置参数是否位于电子围栏的一边上。

5.如权利要求4所述的待检验点的位置定位方法，其特征在于，所述基于待检验点与不同顶点之间的边长关系判断所述待检验点的位置参数是否位于电子围栏的一边上，包括：

设置指针指向所述电子围栏的初始顶点，将所述初始顶点作为当前顶点；

计算当前顶点与下一顶点的距离为第一距离；

计算待检验点与当前顶点的距离为第二距离；

计算待检验点与下一顶点的距离为第三距离；

判断第一距离是否等于第二距离与第三距离之和；

若是，则所述待检验点位于所述电子围栏的边上；

若否，则所述指针将下一顶点作为当前顶点，重新计算并判断第一距离、第二距离及第三距离之间的关系；

若所述指针指向的下一顶点为当前顶点，则所述待检验点不位于所述电子围栏的边上。

6.如权利要求1所述的待检验点的位置定位方法，其特征在于，所述通过射线法判断所述待检验点是否位于所述电子围栏的内部，包括：

通过射线法判断所述待检验点引出的射线是否经过电子围栏的顶点；以及

通过射线法判断所述待检验点引出的射线是否经过电子围栏的边上。

7.如权利要求1所述的待检验点的位置定位方法，其特征在于，所述通过射线法判断所述待检验点是否位于所述电子围栏的内部，包括：

设置指针指向所述电子围栏的初始顶点，将所述初始顶点作为当前顶点；

判断所述待检验点的纵坐标是否在当前顶点与下一顶点的纵坐标之间；

若是，则计算出过所述待检验点的直线y＝y0与所述当前顶点的边交点的横坐标x1，判断所述横坐标x1是否大于待检验点的横坐标；

若所述横坐标x1大于待检验点的横坐标，则所述待检验点与所述电子围栏的边交点的数量加1；

根据所述待检验点与所述电子围栏的边交点的数量判断所述待检验点是否位于所述电子围栏的内部。