[发明专利]一种基于激光测振仪的超声声压测试装置

说明书

本发明公开了一种基于激光测振仪的超声声压测试装置，涉及声压测试技术领域，包括水槽、换能器机构、透声反光薄膜机构和激光测振仪机构，换能器机构包括超声换能器，透声反光薄膜机构包括调节结构和透声反光薄膜，调节结构设置在水槽上，透声反光薄膜与调节结构连接，激光测振仪机构包括激光测振仪和固定结构，激光测振仪通过固定结构设置在水槽的上沿，激光测振仪与水槽外部的第一采集及分析模块电连接，激光测振仪、透声反光薄膜和超声换能器自上而下依次设置，激光测振仪位于水槽的液面以上，透声反光薄膜和超声换能器均位于水槽的液面以下。本发明解决了激光干涉仪固定的难题，使得激光测振仪能够更好地获得信号，测试准确率高。

技术领域

本发明涉及声压测试技术领域，特别是涉及一种基于激光测振仪的超声声压测试装置。

背景技术

现有的激光干涉仪测量基于激光测振仪的超声声压测试装置是将激光测振仪固定在三维控制支架上，可以通过三维控制带动激光测振仪的移动，或者将激光测振仪置于水槽一侧，如图1所示。通过透声窗对透声反光薄膜进行振动测量。但是上述提到的两种方法，具有一定的缺点。

激光测振仪固定在三维控制支架上，因为控制支架的重量限制和角度调节难题，直接控制在支架上，会引起激光测振仪的角度调节困难，同时，由于激光测振仪的长度限制，如此固定，极易发生坠落等危险。当三维控制支架运动时，自身运动导致的振动信号严重影响激光测振仪的信号采集，信号干扰大，测量结果准确率低。

将激光测振仪置于水槽侧面，通过透声窗进行数据采集的方式，由于透声窗、水介质和空气介质之间的介质区分，这种方式测量得到的信号，受透声窗材质的影响较大。并且，透声反光薄膜不能靠近透声窗，会引起较强烈的声信号反射，直接影响测量信号。由于透声反光薄膜距离透声窗有一定的距离，又会引起信号能量减弱，光信号在穿透透声窗、水和空气引起的折射和透射现象，直接影响了测量结果。

因此，以上提出来的两种方式，均存在较大的测量误差和缺点。

发明内容

本发明的目的是提供一种基于激光测振仪的超声声压测试装置，解决了激光干涉仪固定的难题，使得激光测振仪能够更好地获得信号，测试准确率高。

为实现上述目的，本发明提供了如下方案：

本发明提供了一种基于激光测振仪的超声声压测试装置，包括水槽、换能器机构、透声反光薄膜机构和激光测振仪机构，所述水槽用于盛放液体，所述换能器机构包括超声换能器，所述透声反光薄膜机构包括调节结构和透声反光薄膜，所述调节结构设置在所述水槽上，所述透声反光薄膜与所述调节结构连接，所述激光测振仪机构包括激光测振仪和固定结构，所述激光测振仪通过所述固定结构设置在所述水槽的上沿，所述激光测振仪与所述水槽外部的第一采集及分析模块电连接，所述激光测振仪、所述透声反光薄膜和所述超声换能器自上而下依次设置，所述激光测振仪位于所述水槽的液面以上，所述透声反光薄膜和所述超声换能器均位于所述水槽的液面以下。

优选地，所述换能器机构还包括第一支架和夹具，所述第一支架与所述水槽外部的第一移动机构连接，所述夹具用于夹持所述超声换能器，所述夹具与所述第一支架能够拆卸地连接，所述第一支架上设置有若干第一连接孔，通过将所述夹具与不同的所述第一连接孔连接调节所述夹具与所述第一支架的连接位置。

优选地，所述透声反光薄膜机构还包括固定架，所述固定架用于固定所述透声反光薄膜。

优选地，所述调节结构包括两个调节部，各所述调节部均包括角度调节器和连接板，所述角度调节器用于调节所述透声反光薄膜的角度，所述角度调节器的一端与所述水槽连接，所述角度调节器的另一端与所述连接板连接，所述固定架与所述连接板能够拆卸地连接，所述连接板上设置有若干第二连接孔，通过将所述固定架与不同的所述第二连接孔连接调节所述固定架与所述连接板的连接位置进而调节所述透声反光薄膜的高度。