[发明专利]一种低损耗鳍型发射区IGBT器件及其制作方法在审

专利信息
申请号: 202111123352.2 申请日: 2021-09-24
公开(公告)号: CN113871299A 公开(公告)日: 2021-12-31
发明(设计)人: 马奎;邹密;杨发顺;杨赉 申请(专利权)人: 贵州大学
主分类号: H01L21/331 分类号: H01L21/331;H01L21/28;H01L29/06;H01L29/08;H01L29/417;H01L29/739
代理公司: 贵阳中新专利商标事务所 52100 代理人: 商小川
地址: 550025 贵州省贵*** 国省代码: 贵州;52
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摘要:
搜索关键词: 一种 损耗 发射 igbt 器件 及其 制作方法
【权利要求书】:

1.一种低损耗鳍型发射区IGBT器件制作方法,其特征在于:它包括:

步骤1、将器件的发射极侧制作为Mesa结构;

步骤2、制作完成发射极侧的Mesa结构后,将晶圆翻转制作背面集电极侧的结构;集电极侧结构为p集电区─n/p+/n/…/n/p+/n混合层─Field Stop层;

步骤3、制作Collector金属电极:制作完集电极侧结构后,刻蚀掉整个晶圆上表面的二氧化硅,淀积金属形成Collector电极;

步骤4、制作Emitter金属电极:翻转晶圆,在Mesa结构一侧进行操作。首先在二氧化硅层上开出发射区窗口;然后淀积金属形成Emitter电极。

2.根据权利要求1所述的一种低损耗鳍型发射区IGBT器件制作方法,其特征在于:步骤1所述将器件的发射极侧制作为Mesa结构的方法包括:

步骤1.1、选择衬底材料:选取晶向为[100]、杂质浓度为6×1013cm-3的高纯单晶硅片作为衬底材料;

步骤1.2、制作p-body区:将单晶硅片在950℃下湿氧氧化17分钟,在硅片上生成牺牲氧化层;

步骤1.3、进行硼注入:注入剂量为2×1013cm-2,注入能量为100keV;

步骤1.4、高温退火:在氮气环境下,温度从850℃匀速上升至1100℃,升温时间32分钟;在1100℃恒温30分钟、温度从1100℃匀速下降至850℃,降温时间32分钟,完成高温退火,得到p-body区;

步骤1.5、经过光刻开出p+区窗口;

步骤1.6、进行浓硼注入:注入剂量为6×1013cm-2、注入能量为600keV;

步骤1.7、进行高温退火:在氮气环境下,温度从850℃匀速上升至1000℃升温时间18分钟、在1000℃下恒温40分钟、温度从1000℃匀速降至850℃降温时间18分钟,完成高温退火,得到p+区;

步骤1.9、在p+区进行硼注入,注入能量80keV,注入剂量为1×1015cm-2

步骤1.10、进行高温退火:在氮气环境下温度从850℃匀速上升至1050℃,升温时间25分钟、在1050℃下恒温20分钟、温度从1050℃匀速降至850℃降温时间25分钟,完成高温退火,在p+区表面形成高浓度的p型区域;

步骤1.11、制作n+区:光刻开出n+区窗口;

步骤1.12、进行浓砷注入,注入剂量为3×1015cm-2、注入能量为90keV;

步骤1.13、进行高温退火,在氮气环境下温度从850℃匀速上升至1000℃,升温时间18分钟、在1000℃恒温20分钟、温度从1000℃匀速降至850℃,用时18分钟,完成高温退火,得到n+区;

步骤1.14、刻蚀形成Mesa结构:光刻出刻蚀窗口后,通过反应离子刻蚀硅,刻蚀深度为3μm;刻蚀完成后进行侧墙氧化使侧墙变得平滑;

步骤1.15、制作多晶硅栅。

3.根据权利要求2所述的一种低损耗鳍型发射区IGBT器件制作方法,其特征在于:侧墙氧化的具体步骤是:在氮气环境下温度从850℃匀速上升至950℃,升温时间12分钟、在950℃下恒温5分钟进行干氧氧化、在950℃恒温12分钟进行掺氯湿氧氧化、再在950℃恒温5分钟进行干氧氧化;温度从950℃匀速降至850℃,降温时间12分钟,最后去除整个表面的二氧化硅层。

4.根据权利要求2所述的一种低损耗鳍型发射区IGBT器件制作方法,其特征在于:制作多晶硅栅的方法为:在整个表面通过干氧氧化生长一层二氧化硅层作为栅氧化层,干氧氧化温度1000℃,时间80分钟;在氮气环境下,从850℃均匀升温至1000℃,升温时间18分钟,从1000℃均为降温至850℃降温时间18分钟;然后淀积厚度为2μm的多晶硅层,进行砷重掺杂后,刻蚀多晶硅形成“栅极”;最后在表面淀积一层厚度为0.6μm的二氧化硅层,并进行900℃、30分钟的二氧化硅增密。

5.根据权利要求1所述的一种低损耗鳍型发射区IGBT器件制作方法,其特征在于:集电极侧结构的制备方法为包括:

步骤2.1、制作完发射极侧的Mesa结构后,将晶圆翻转制作背面集电极侧的结构;

步骤2.2、用高能离子注入形成FS层:在1000keV注入能量条件下注入磷,注入剂量为8×1012cm-2,注入后在900℃条件下退火10分钟;

步骤2.3、制作n/p+/n/…/n/p+/n混合层:在200keV注入能量条件下注入磷,注入剂量为1×1013cm-2,形成混合层中的n区;

步骤2.4、然后经过光刻开出p+区窗口后,进行硼注入,注入剂量为8×1013cm-2、注入能量为100keV,形成混合层中的p+区;

步骤2.5、在900℃条件下进行高温退火10分钟,形成n/p+/n/…/n/p+/n混合层;

步骤2.6、制作p+collector:在100keV注入能量条件下注入二氟化硼,注入剂量为8×1012cm-2

步骤2.7、进行退火:在氮气环境下温度从850℃匀速上升至950℃,升温用时12分钟、在950℃下恒温20分钟、温度从950℃匀速降至850℃,降温用时12分钟;完成退火。

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