[发明专利]一种低损耗鳍型发射区IGBT器件及其制作方法在审
申请号: | 202111123352.2 | 申请日: | 2021-09-24 |
公开(公告)号: | CN113871299A | 公开(公告)日: | 2021-12-31 |
发明(设计)人: | 马奎;邹密;杨发顺;杨赉 | 申请(专利权)人: | 贵州大学 |
主分类号: | H01L21/331 | 分类号: | H01L21/331;H01L21/28;H01L29/06;H01L29/08;H01L29/417;H01L29/739 |
代理公司: | 贵阳中新专利商标事务所 52100 | 代理人: | 商小川 |
地址: | 550025 贵州省贵*** | 国省代码: | 贵州;52 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 损耗 发射 igbt 器件 及其 制作方法 | ||
1.一种低损耗鳍型发射区IGBT器件制作方法,其特征在于:它包括:
步骤1、将器件的发射极侧制作为Mesa结构;
步骤2、制作完成发射极侧的Mesa结构后,将晶圆翻转制作背面集电极侧的结构;集电极侧结构为p集电区─n/p+/n/…/n/p+/n混合层─Field Stop层;
步骤3、制作Collector金属电极:制作完集电极侧结构后,刻蚀掉整个晶圆上表面的二氧化硅,淀积金属形成Collector电极;
步骤4、制作Emitter金属电极:翻转晶圆,在Mesa结构一侧进行操作。首先在二氧化硅层上开出发射区窗口;然后淀积金属形成Emitter电极。
2.根据权利要求1所述的一种低损耗鳍型发射区IGBT器件制作方法,其特征在于:步骤1所述将器件的发射极侧制作为Mesa结构的方法包括:
步骤1.1、选择衬底材料:选取晶向为[100]、杂质浓度为6×1013cm-3的高纯单晶硅片作为衬底材料;
步骤1.2、制作p-body区:将单晶硅片在950℃下湿氧氧化17分钟,在硅片上生成牺牲氧化层;
步骤1.3、进行硼注入:注入剂量为2×1013cm-2,注入能量为100keV;
步骤1.4、高温退火:在氮气环境下,温度从850℃匀速上升至1100℃,升温时间32分钟;在1100℃恒温30分钟、温度从1100℃匀速下降至850℃,降温时间32分钟,完成高温退火,得到p-body区;
步骤1.5、经过光刻开出p+区窗口;
步骤1.6、进行浓硼注入:注入剂量为6×1013cm-2、注入能量为600keV;
步骤1.7、进行高温退火:在氮气环境下,温度从850℃匀速上升至1000℃升温时间18分钟、在1000℃下恒温40分钟、温度从1000℃匀速降至850℃降温时间18分钟,完成高温退火,得到p+区;
步骤1.9、在p+区进行硼注入,注入能量80keV,注入剂量为1×1015cm-2;
步骤1.10、进行高温退火:在氮气环境下温度从850℃匀速上升至1050℃,升温时间25分钟、在1050℃下恒温20分钟、温度从1050℃匀速降至850℃降温时间25分钟,完成高温退火,在p+区表面形成高浓度的p型区域;
步骤1.11、制作n+区:光刻开出n+区窗口;
步骤1.12、进行浓砷注入,注入剂量为3×1015cm-2、注入能量为90keV;
步骤1.13、进行高温退火,在氮气环境下温度从850℃匀速上升至1000℃,升温时间18分钟、在1000℃恒温20分钟、温度从1000℃匀速降至850℃,用时18分钟,完成高温退火,得到n+区;
步骤1.14、刻蚀形成Mesa结构:光刻出刻蚀窗口后,通过反应离子刻蚀硅,刻蚀深度为3μm;刻蚀完成后进行侧墙氧化使侧墙变得平滑;
步骤1.15、制作多晶硅栅。
3.根据权利要求2所述的一种低损耗鳍型发射区IGBT器件制作方法,其特征在于:侧墙氧化的具体步骤是:在氮气环境下温度从850℃匀速上升至950℃,升温时间12分钟、在950℃下恒温5分钟进行干氧氧化、在950℃恒温12分钟进行掺氯湿氧氧化、再在950℃恒温5分钟进行干氧氧化;温度从950℃匀速降至850℃,降温时间12分钟,最后去除整个表面的二氧化硅层。
4.根据权利要求2所述的一种低损耗鳍型发射区IGBT器件制作方法,其特征在于:制作多晶硅栅的方法为:在整个表面通过干氧氧化生长一层二氧化硅层作为栅氧化层,干氧氧化温度1000℃,时间80分钟;在氮气环境下,从850℃均匀升温至1000℃,升温时间18分钟,从1000℃均为降温至850℃降温时间18分钟;然后淀积厚度为2μm的多晶硅层,进行砷重掺杂后,刻蚀多晶硅形成“栅极”;最后在表面淀积一层厚度为0.6μm的二氧化硅层,并进行900℃、30分钟的二氧化硅增密。
5.根据权利要求1所述的一种低损耗鳍型发射区IGBT器件制作方法,其特征在于:集电极侧结构的制备方法为包括:
步骤2.1、制作完发射极侧的Mesa结构后,将晶圆翻转制作背面集电极侧的结构;
步骤2.2、用高能离子注入形成FS层:在1000keV注入能量条件下注入磷,注入剂量为8×1012cm-2,注入后在900℃条件下退火10分钟;
步骤2.3、制作n/p+/n/…/n/p+/n混合层:在200keV注入能量条件下注入磷,注入剂量为1×1013cm-2,形成混合层中的n区;
步骤2.4、然后经过光刻开出p+区窗口后,进行硼注入,注入剂量为8×1013cm-2、注入能量为100keV,形成混合层中的p+区;
步骤2.5、在900℃条件下进行高温退火10分钟,形成n/p+/n/…/n/p+/n混合层;
步骤2.6、制作p+collector:在100keV注入能量条件下注入二氟化硼,注入剂量为8×1012cm-2;
步骤2.7、进行退火:在氮气环境下温度从850℃匀速上升至950℃,升温用时12分钟、在950℃下恒温20分钟、温度从950℃匀速降至850℃,降温用时12分钟;完成退火。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于贵州大学,未经贵州大学许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/202111123352.2/1.html,转载请声明来源钻瓜专利网。
- 同类专利
- 专利分类
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造