[发明专利]一种芯片自动测试系统及芯片测试方法

权利要求书

1.一种芯片自动测试系统，其特征在于，包括支架(400)和设于所述支架(400)的喂料单元(6)、传输单元(7)、至少一个测试单元(8)以及装料单元(9)；

所述喂料单元(6)用于储存第一容器(100)，且可将所述第一容器(100)中盛放的芯片(300)转移至所述传输单元(7)；所述传输单元(7)将芯片(300)传输至所述测试单元(8)，所述测试单元(8)对芯片(300)进行测试作业；所述装料单元(9)将完成测试作业的芯片(300)装入第二容器(200)。

2.根据权利要求1所述的芯片自动测试系统，其特征在于，所述喂料单元(6)包括储存器(61)、运输器(62)和喂料器(63)；所述储存器(61)用于储存第一容器(100)，所述运输器(62)用于将所述储存器(61)中的所述第一容器(100)取出并转移至喂料位置，所述喂料器(63)将位于所述喂料位置的所述第一容器(100)中盛放的芯片(300)转移至所述传输单元(7)。

3.根据权利要求2所述的芯片自动测试系统，其特征在于，所述储存器(61)包括两个相对设于所述支架(400)的第一储存架(611)和第二储存架(612)，所述第一储存架(611)和所述第二储存架(612)的相对面分别设有沿第一方向延伸的第一储存槽(6111)和第二储存槽(6121)，所述第一储存架(611)和所述第二储存架(612)的底端均设有出料口(6112)，所述第一容器(100)的两端分别位于所述第一储存槽(6111)和所述第二储存槽(6121)内，且能从所述出料口(6112)沿第二方向滑出，所述第二方向垂直于所述第一方向。

4.根据权利要求3所述的芯片自动测试系统，其特征在于，所述运输器(62)包括移动板(621)，所述移动板(621)设有第一放置部(6211)，所述移动板(621)沿所述第二方向滑动设于所述支架(400)，所述移动板(621)具有靠近所述储存器(61)的取料位置和靠近所述喂料器(63)的喂料位置；所述储存器(61)还包括卸料件(615)，所述卸料件(615)沿所述第一方向滑动设于所述支架(400)，所述卸料件(615)具有将所述第一容器(100)托至所述出料口(6112)上方的顶托位置和将所述第一容器(100)放落至所述出料口(6112)处的放料位置；所述卸料件(615)位于所述顶托位置时，所述移动板(621)能运动至所述取料位置，所述卸料件(615)位于所述放料位置时，所述第一容器(100)位于所述第一放置部(6211)并被所述移动板(621)转移至所述喂料位置。

5.根据权利要求4所述的芯片自动测试系统，其特征在于，所述喂料单元(6)还包括设于所述支架(400)的收集区(64)，所述移动板(621)还包括第二放置部(6212)，所述移动板(621)还具有靠近所述收集区(64)的弃料位置，所述移动板(621)位于所述取料位置时，所述喂料位置的所述第一容器(100)能放置于所述第二放置部(6212)，所述移动板(621)运动至所述弃料位置时，所述第一容器(100)能被放置于所述收集区(64)。

6.根据权利要求2所述的芯片自动测试系统，其特征在于，所述喂料器(63)包括：

喂料架(631)，转动设于所述支架(400)上的支撑板(401)，具有接收所述第一容器(100)的接料位置和将所述第一容器(100)倾斜的下料位置，所述喂料架(631)设有承载部(6311)；

压块(633)，滑动设于所述喂料架(631)，具有靠近所述承载部(6311)以将所述第一容器(100)压紧于所述承载部(6311)的压紧位置和远离所述承载部(6311)以释放所述第一容器(100)的放开位置。