[发明专利]一种光偏转法激光超声无损检测设备及方法有效

专利信息
申请号: 202111131183.7 申请日: 2021-09-26
公开(公告)号: CN114018826B 公开(公告)日: 2023-01-03
发明(设计)人: 李震;刘鉴霆;周永祥;王亦军 申请(专利权)人: 宝宇(武汉)激光技术有限公司
主分类号: G01N21/17 分类号: G01N21/17;G01N21/01
代理公司: 武汉大楚知识产权代理事务所(普通合伙) 42257 代理人: 徐杨松;高源
地址: 430000 湖北省武汉市江夏区东湖新技术*** 国省代码: 湖北;42
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摘要:
搜索关键词: 一种 偏转 激光 超声 无损 检测 设备 方法
【权利要求书】:

1.一种光偏转法激光超声无损检测设备,其特征在于,包括:

分束器件(2),包括:分束棱镜(210)和反光镜(220),分束棱镜(210)布置在激光器(1)的出射端,分束棱镜(210)具有两个出射端,反光镜(220)布置在分束棱镜(210)的其中一个出射端;

振镜(3),其布置在分束棱镜(210)的另一个出射端;

光开关(12),其布置在分束棱镜(210)的出射端与振镜(3)的入射端之间,通过光开关(12)控制出光为点间隔出光,出光时间按照振镜(3)扫描的频率同步,通过光开关(12)的光出射到达振镜(3)上;

能量衰减器件(4),其布置在反光镜(220)的反射端;

第一正透镜(5),其布置在能量衰减器件(4)的出射端;

第二正透镜(6),其与第一正透镜(5)同侧布置;

工件上的探测点在第一正透镜(5)和第二正透镜(6)的焦平面上;

第三正透镜(7),其布置在第二正透镜(6)的出射端;

遮光器件(8),其布置在第二正透镜(6)与第三正透镜(7)之间,并用以部分遮挡从第二正透镜(6)射向第三正透镜(7)的光束;

光电二极管(9),其布置在第三正透镜(7)的出射端,且处在第三正透镜(7)的焦平面上;

信号处理端(10),其分别与激光器(1)、振镜(3)和光电二极管(9)电连接。

2.根据权利要求1所述的一种光偏转法激光超声无损检测设备,其特征在于:

还包括扩束镜(11),其布置在能量衰减器件(4)的出射端与第一正透镜(5)的入射端之间。

3.根据权利要求2所述的一种光偏转法激光超声无损检测设备,其特征在于:所述扩束镜(11)的倍数为4~10倍。

4.根据权利要求1所述的一种光偏转法激光超声无损检测设备,其特征在于:所述能量衰减器件(4)为衰减片。

5.根据权利要求1所述的一种光偏转法激光超声无损检测设备,其特征在于:所述激光器(1)采用高能量连续激光器,发射波段为532nm、1064nm的脉冲激光。

6.根据权利要求5所述的一种光偏转法激光超声无损检测设备,其特征在于:所述激光器(1)所发射脉冲激光的能量密度大于500uJ/cm2

7.一种光偏转法激光超声无损检测方法,其特征在于,包括如下步骤:

S100、激光器(1)发射脉冲激光,并通过分束棱镜(210)分为两束;

S200、由分束棱镜(210)所分的一束脉冲激光发射至光开关(12),并通过光开关(12)控制出光为点间隔出光,出光时间按照振镜(3)扫描的频率同步,通过光开关(12)的光出射到达振镜(3)上,并在振镜(3)的作用下于工件上形成面阵扫描;

S300、由分束棱镜(210)所分的另一束脉冲激光经反光镜(220)改变方向,通过扩束镜(11)扩束后变为一束直径为D的激光光束,并被焦距为F1的第一正透镜(5)聚焦至工件上,受声扰动的工件表面上有因连续波引起的波纹,或因脉冲波影响而引起的局部倾斜;

当入射于表面的探测光斑的尺寸比待探测的最短声波波长小时,由声扰动导致的表面倾斜会使反射光偏转,偏转的反射光束携带着声脉冲的信息,通过焦距为F2的第二正透镜(6)后变为平行光,出射光一半被遮光器件(8)挡住,另一半被焦距为F3的第三正透镜(7)聚焦至光电二极管(9)上进行测定;

当脉冲激光在工件表面激发瑞利波,激发的瑞利波沿表面传播到达探测点时,引起表面发生微小形变,假定表面形变的倾斜角为θ,则反射光束相对于原反射光束偏离2θ,将影响进入光电二极管(9)的光强度,光强变化信号转变为电信号,并由信号处理端(10)进行记录、分析。

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