[发明专利]石墨烯氧化钒红外探测器、制备方法及其应用在审
申请号: | 202111138629.9 | 申请日: | 2021-09-27 |
公开(公告)号: | CN113851552A | 公开(公告)日: | 2021-12-28 |
发明(设计)人: | 田野;程传同 | 申请(专利权)人: | 苏州微光电子融合技术研究院有限公司 |
主分类号: | H01L31/09 | 分类号: | H01L31/09;H01L31/032;H01L31/18;H01L23/14 |
代理公司: | 苏州三英知识产权代理有限公司 32412 | 代理人: | 朱如松 |
地址: | 215212 江苏省*** | 国省代码: | 江苏;32 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 石墨 氧化 红外探测器 制备 方法 及其 应用 | ||
1.一种石墨烯氧化钒红外探测器,其特征在于,包括响应部,所述响应部包括基体,
形成于基体上的电极,所述电极在基体表面形成有空缺部分,
形成于电极上的石墨烯层,所述石墨烯层、电极以及基体限定所述空缺部分为腔结构,
形成于石墨烯层上的Parylene薄膜层,
形成于Parylene薄膜层上的氧化钒层,所述氧化钒层至少部分与电极电连接。
2.如权利要求1所述的石墨烯氧化钒红外探测器,其特征在于,所述电极为中空的环形,所述空缺部分为环形的电极贴合在基体上所形成的中空部分。
3.如权利要求1所述的石墨烯氧化钒红外探测器,其特征在于,所述氧化钒层完全地覆盖Parylene薄膜层,并通过氧化钒层的边沿部分连接到电极,所述石墨烯层和Parylene薄膜层限定于氧化钒层的覆盖空间内。
4.如权利要求1-3任一所述的石墨烯氧化钒红外探测器,其特征在于,所述电极的厚度为80-100nm。
5.如权利要求1所述的石墨烯氧化钒红外探测器,其特征在于,所述石墨烯层为单层石墨烯或多层石墨烯。
6.如权利要求1或3所述的石墨烯氧化钒红外探测器,其特征在于,所述Parylene薄膜层的厚度为30-50nm。
7.如权利要求1或3所述的石墨烯氧化钒红外探测器,其特征在于,所述氧化钒层的厚度为50-100nm。
8.如权利要求1所述的石墨烯氧化钒红外探测器,其特征在于,所述基体包括硅衬底以及形成与硅衬底上的二氧化硅层,所述电极形成于二氧化硅层上。
9.如权利要求1-8任一所述的石墨烯氧化钒红外探测器的制备方法,其特征在于,包括如下步骤,
准备石墨烯层与Parylene薄膜层所形成的多层薄膜;
在基体上形成电极;
转移多层薄膜至电极上;
刻蚀多层薄膜形成满足设计要求的形状;
以Parylene薄膜层为依托形成氧化钒薄膜。
10.如权利要求1-8任一所述的石墨烯氧化钒红外探测器在红外成像、红外显示中的应用。
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H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L31-00 对红外辐射、光、较短波长的电磁辐射,或微粒辐射敏感的,并且专门适用于把这样的辐射能转换为电能的,或者专门适用于通过这样的辐射进行电能控制的半导体器件;专门适用于制造或处理这些半导体器件或其部件的方法或
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