[发明专利]一种侧面下针式弹片微针测试模组

说明书

本发明公开了一种侧面下针式弹片微针测试模组，旨在提供一种结构简单操作简易、并使用侧面接触待测产品的一种侧面下针式弹片微针测试模组。本发明包括底座、测试组件、定位板、浮动块以及封板，所述测试组件与所述底座相连接，所述定位板与所述测试组件配合连接，所述浮动块通过若干弹簧与所述定位板浮动连接，所述封板与所述浮动块贴合并与所述定位块相连接。本发明应用于连接器测试的技术领域。

技术领域

本发明涉及连接器测试的技术领域,特别涉及一种侧面下针式弹片微针测试模组。

背景技术

侧插式板对板连接器用于连接不同的电路板或者软排线，使两个电路板或者软排线之间可以实现信号的传输。此连接器可分为公头连接器、母头连接器，两种连接器侧面均设有若干个导电接触点。板对板连接器被大量用于3C电子产品，保证其质量是生产过程的重中之重。

目前常用的测试方式是用连接器对扣的方式进行测试，例如使用公头连接器作为测试装置去测试母头连接器，或者使用母头连接器作为测试装置去测试公头连接器。这种方式不仅操作较为复杂，且可能对产品本身造成损耗。

发明内容

本发明所要解决的技术问题是克服现有技术的不足，提供一种结构简单操作简易、并使用侧面接触待测产品的一种侧面下针式弹片微针测试模组。

本发明所采用的技术方案是：本发明包括底座、测试组件、定位板、浮动块以及封板，所述测试组件与所述底座相连接，所述定位板与所述测试组件配合连接，所述浮动块通过若干弹簧与所述定位板浮动连接，所述封板与所述浮动块贴合并与所述定位块相连接。

进一步，所述测试组件包括若干弹片微针、两组微针固定件以及压板，两组所述微针固定件上设置有若干针槽，若干所述弹片微针对应与若干所述针槽配合连接，两组所述微针固定件与所述底座相连接，若干所述弹片微针均设置有卡耳，所述压板的下端与所述卡耳贴合，所述压板与所述底座相连接。

进一步，所述定位板的中部设置有若干针孔，若干所述针孔对应与若干所述弹片微针配合连接，所述定位板的中部还设置有凹槽，所述凹槽的内部对称设置有若干沉头孔，若干所述弹簧的一端分别与若干所述沉头孔相连接，若干所述弹簧的另一端均与所述浮动块相连接，所述浮动块的中部设置有开口。

进一步，所述底座上设置有若干卡槽，若干所述卡槽对应与若干所述卡耳相连接。

进一步，所述弹片微针包括第一接触部、第二接触部以及弹性连接部，所述第一接触部与外部导通测试机构相连接，所述第二接触部与外部待测机构相连接，所述弹性连接部设置在所述第一接触部与所述第二接触部之间。

进一步，所述第二接触部设置有侧边接头与底部接头，所述侧边接头与所述底部接头垂直设置。

进一步，所述弹性连接部与所述第二接触部的连接处设置有倾斜角。

进一步，所述弹性连接部的中部设置有回弹槽。

进一步，所述浮动块的中部设置有导向孔，所述导向孔与所述定位板之间设置有预留槽。

本发明的有益效果是：本发明采用微针侧面接触的设计，避免待测产品表面造成磨损，延长产品使用寿命；并加入浮动式设计，防止待测产品插入时力度过大，导致弹片微针接触部刚性损坏。

附图说明

图1是本发明的爆炸图；

图2是本发明的剖视图；

图3是本发明底座与弹片微针配合的结构示意图；

图4是图3中A部分局部放大图；

图5是本发明的装配图。

具体实施方式