[发明专利]一种用于球面板材缺陷检测的半柔性阵列式电磁超声探头有效
申请号: | 202111146736.6 | 申请日: | 2021-09-28 |
公开(公告)号: | CN113984892B | 公开(公告)日: | 2023-04-07 |
发明(设计)人: | 何龙龙;周运来 | 申请(专利权)人: | 西安交通大学 |
主分类号: | G01N29/04 | 分类号: | G01N29/04;G01N29/22;G01N29/24 |
代理公司: | 西安通大专利代理有限责任公司 61200 | 代理人: | 白文佳 |
地址: | 710049 *** | 国省代码: | 陕西;61 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 用于 球面 板材 缺陷 检测 柔性 阵列 电磁 超声 探头 | ||
1.一种用于球面板材缺陷检测的半柔性阵列式电磁超声探头,其特征在于,包括支撑框架(5)和若干电磁探头单体(4);若干电磁探头单体(4)阵列排布在支撑框架(5)内,支撑框架(5)形状可调,相邻电磁探头单体(4)之间通过第一弹性连接体(6)连接,所述阵列边缘的电磁探头单体(4)通过第二弹性连接体(7)与支撑框架(5)连接;所有电磁探头单体(4)均连接至电磁超声检测系统;电磁探头单体(4)包括永磁体(1)、探头壳体(2)和激励线圈电路板(3),永磁体(1)设在探头壳体(2)内,激励线圈电路板(3)设在检测面上;探头壳体(2)为铝合金材质,探头壳体(2)上开设有凹槽,激励线圈电路板(3)放置在凹槽内;支撑框架(5)为金属定型软管,第一弹性连接体(6)和第二弹性连接体(7)为高强弹性材质。
2.根据权利要求1所述的用于球面板材缺陷检测的半柔性阵列式电磁超声探头,其特征在于,永磁体(1)为圆柱体钕铁硼磁体,永磁体(1)表面设有镀锌层,永磁体(1)表面最大剩余磁通为1.2~1.5T。
3.根据权利要求1所述的用于球面板材缺陷检测的半柔性阵列式电磁超声探头,其特征在于,永磁体(1)的充磁方向为厚度方向。
4.根据权利要求1所述的用于球面板材缺陷检测的半柔性阵列式电磁超声探头,其特征在于,激励线圈电路板(3)包括基板(31)、线圈(32)、引出焊点(33)和引出导线(34);线圈(32)螺旋设置在基板(31)上,线圈(32)两端分别通过基板(31)上的引出焊点(33)与引出导线(34)连接,引出导线(34)连接至电磁超声检测系统。
5.根据权利要求1所述的用于球面板材缺陷检测的半柔性阵列式电磁超声探头,其特征在于,激励线圈电路板(3)产生的体波频率为0.5~2.5MHz。
6.根据权利要求1所述的用于球面板材缺陷检测的半柔性阵列式电磁超声探头,其特征在于,相邻电磁探头单体(4)内永磁体(1)的磁极方向相反。
7.根据权利要求1所述的用于球面板材缺陷检测的半柔性阵列式电磁超声探头,其特征在于,相邻电磁探头单体(4)之间的夹角可在145°~180°之间无级调节。
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