[发明专利]电缆缓冲层的缺陷检测方法、装置和设备有效
| 申请号： | 202111148373.X | 申请日： | 2021-09-29 |
| 公开（公告）号： | CN113588724B | 公开（公告）日： | 2021-12-21 |
| 发明（设计）人： | 房晟辰;朱晓辉;杨磊;张军;贺春;王楠;徐科;唐庆华;张弛;王浩鸣;李隆基;孙成;宋鹏先;范巍 | 申请（专利权）人： | 国网天津市电力公司电力科学研究院;国网天津市电力公司 |
| 主分类号： | G01N27/04 | 分类号： | G01N27/04;G01N27/20;G06F17/15 |
| 代理公司： | 广州三环专利商标代理有限公司 44202 | 代理人： | 麦小婵;郝传鑫 |
| 地址： | 300384 *** | 国省代码： | 天津;12 |
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| 摘要： | |||
| 搜索关键词： | 电缆 缓冲 缺陷 检测 方法 装置 设备 | ||
1.一种电缆缓冲层的缺陷检测方法，其特征在于，包括：
获取电缆的长度参数、皱纹节距参数、半径参数和厚度参数；其中，所述电缆包括屏蔽层、皱纹护套以及设于两者之间的缓冲层；
获取所述屏蔽层与所述皱纹护套之间的第一电阻值，以及根据所述长度参数和所述皱纹节距参数计算所述屏蔽层的第二电阻值；
根据所述第一电阻值和所述第二电阻值计算所述缓冲层的径向电阻值；
根据所述半径参数和所述厚度参数确定所述皱纹护套与所述缓冲层的接触临界点的接触角度；
在所述缓冲层与所述皱纹护套的接触面中取若干个点作为插值基点；
对所述插值基点取均值，得到插值数据点；
获取所述插值数据点的坐标，并根据若干个所述插值数据点的坐标构建插值函数表达式；
根据所述插值函数表达式、所述径向电阻值和所述接触角度采用电阻近似方式计算所述缓冲层的第一体积电阻率；
根据所述插值函数表达式、所述径向电阻值和所述接触角度采用电导近似方式计算所述缓冲层的第二体积电阻率；
根据所述第一体积电阻率和所述第二体积电阻率确定所述缓冲层的总体积电阻率，并将所述总体积电阻率与预设的评价参数进行比对，以得到所述缓冲层的缺陷检测结果。
2.如权利要求1所述的电缆缓冲层的缺陷检测方法，其特征在于，所述第一体积电阻率满足以下公式：
；
其中，为所述第一体积电阻率；
3.如权利要求1所述的电缆缓冲层的缺陷检测方法，其特征在于，所述第二体积电阻率满足以下公式：
；
其中，为所述第二体积电阻率；
4.如权利要求1所述的电缆缓冲层的缺陷检测方法，其特征在于，所述将所述总体积电阻率与预设的评价参数进行比对，以得到所述缓冲层的缺陷检测结果，包括：
当所述总体积电阻率小于或等于所述评价参数时，判定所述缓冲层不存在缺陷；
当所述总体积电阻率大于所述评价参数时，判定所述缓冲层存在缺陷。
5.如权利要求4所述的电缆缓冲层的缺陷检测方法，其特征在于，所述根据所述第一体积电阻率和所述第二体积电阻率确定所述缓冲层的总体积电阻率，满足以下公式：
；
其中，为所述总体积电阻率；
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